水分計
【課題】 予め乾燥温度を設定した温度制御シーケンスを実行している最中に、乾燥温度を変更することができる水分計を提供する。
【解決手段】 荷重を検出する荷重検出部１０と試料が載置される試料皿４０とを有する天秤本体部５０と、加熱体６０が取り付けられた天秤蓋部９０と、入力装置２５と、加熱体６０、荷重検出部１０及び入力装置２５を制御する制御部８０とを備え、制御部８０は、入力装置２５によって乾燥温度が設定された温度制御シーケンスを実行する水分計１であって、制御部８０は、温度制御シーケンスを実行している最中に、入力装置２５によって温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行する。
【解決手段】 荷重を検出する荷重検出部１０と試料が載置される試料皿４０とを有する天秤本体部５０と、加熱体６０が取り付けられた天秤蓋部９０と、入力装置２５と、加熱体６０、荷重検出部１０及び入力装置２５を制御する制御部８０とを備え、制御部８０は、入力装置２５によって乾燥温度が設定された温度制御シーケンスを実行する水分計１であって、制御部８０は、温度制御シーケンスを実行している最中に、入力装置２５によって温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、水分計に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子水分計は、試料皿に載置された試料を加熱乾燥して試料の重量の減少から試料に含まれる水分率を測定するものである（例えば、特許文献１参照）。
図５は、従来の電子水分計の構成を示す斜視図である。なお、図５は、蓋を開けた状態の電子水分計である。また、図６は、図５に示す電子水分計の構成の一例を示すブロック図である。
このような電子水分計１０１は、荷重を検出する荷重検出センサ（荷重検出部）１０が収容されるケース（本体筐体）２０と制御部１８０とを有する天秤本体部５０と、荷重検出センサ１０に取り付けられ試料が載置される試料皿４０と、直管型のハロゲンヒータ（加熱体）６０とケース（蓋筐体）７０とを有する天秤蓋部９０とを備える。
【０００３】
ケース２０は、四角形状の上板（上面）２１の中央部に円環形状の風防２２が形成されており、円環形状の風防２２の中心に位置する部分の上板２１には、上下方向に上板２１を貫通する円形状の軸穴が形成されている。
また、上板２１の前部には表示装置２４と入力装置２５とが形成されており、表示装置２４に「水分率」等が表示されるとともに、入力装置２５を用いて温度制御シーケンス等が設定されるようになっている。
【０００４】
荷重検出センサ１０は、直方体形状のアルミニウム合金製のブロック体であり、ロバーバル機構と、第一レバーと、第二レバーと、ロバーバル機構と第一レバーと第二レバーとを連結する連結部材とが、前後方向に貫通する孔やスリット等を設けることによって形成されている。
ロバーバル機構は、ケース２０に取付部材を介して固定される固定柱と、金属製の円柱形状の連結軸が結合される可動柱と、両端部に可撓部（ヒンジ部）を有する２本の梁とから構成される。そして、可動柱と固定柱とを、互いに平行な２本の梁によって連結した構造となっている。
【０００５】
第二レバーの他端部には、持出部材の基端部がネジ等によって固定される。これにより、試料の荷重は、可動柱と連結部材と第一レバーと連結部材と第二レバーとを介して、持出部材の先端部を傾動させるようになっている。このような持出部材の先端部の変位は、ケース２０に固定された変位センサによって検出される。また、持出部材の先端部には、電磁力発生装置のフォースコイルが固着されている。これにより、電磁力発生装置のフォースコイルに流される電流の大きさは、変位センサからの検出信号に基づいて、持出部材の先端部の変位が０となるようにサーボ機構によって制御される。
なお、連結軸の下端部が、荷重検出センサ１０の可動柱の上面に結合されているとともに、連結軸の上端部に試料皿４０が測定者によって取り付け取り外し可能となっている。
そして、荷重検出センサ１０は、ケース２０の内部空間に配置されるとともに、連結軸は、ケース２０の内側から軸穴を通って風防２２の中央に配置されている。
【０００６】
ケース７０は、円形の上板と上板の周縁部から下方に伸びた円筒状の側壁とを有し、上板の下面にはハロゲンヒータ６０が取り付けられている。
そして、側壁の一部の下部とケース２０の上板２１の後側とを軸として、ケース７０が回動可能に取り付けられている。このとき、ケース７０が閉じられた際には、ケース７０が風防２２を覆うようになり、一方、ケース７０が開けられた際には、ケース７０の上板は、ケース２０の上板２１と垂直となるようになっている。
【０００７】
制御部１８０は、ＣＰＵ１８１とメモリ（記憶部）１８２とを備え、さらに入力装置２５と表示装置２４とが連結されている。ＣＰＵ１８１が処理する機能をブロック化して説明すると、温度制御シーケンスを設定する温度制御シーケンス設定部８１ａと、ハロゲンヒータ６０を制御する温度制御シーケンス実行部１８１ｂと、変位センサからの検出信号に基づいて持出部材の先端部の変位が０となるようにサーボ機構を制御する測定部８１ｃと、表示装置２４に「水分率」等を表示する表示制御部８１ｄとを有する。また、メモリ１８２は、作成された温度制御シーケンスを記憶する温度制御シーケンス記憶領域１８２ａを有する。
なお、「水分率」とは、試料の初期重量をＷとし、試料の現在重量をＤとし、Ｍ＝Ｗ−Ｄとすると、Ｄ／ＷやＭ／ＷやＷ／Ｄで表され、試料の種類や測定内容に対応して適宜、選択されるようになっている。
【０００８】
このような電子水分計１０１では、試料の種類や測定内容に対応して適切な内容に予め設定された複数の「温度制御シーケンス」の内から適切な一つの「温度制御シーケンス」を選択して設定することが可能となっている。例えば、「温度制御シーケンス」として、「自動停止モード」と「時間停止モード」と「急速乾燥モード」と「緩速乾燥モード」と「ステップ乾燥モード」との５種類の「温度制御シーケンス」を設定することが可能となっている。
「自動停止モード」では、３０秒間の水分変化量が設定した閾値以下になると、測定を終了する。「時間停止モード」では、設定した時間に達すると、測定を終了する。「急速乾燥モード」では、３０秒間の水分変化量が設定した閾値以下になるまで、急速乾燥温度で乾燥を行い、その後は設定した乾燥温度で乾燥を行う。「緩速乾燥モード」では、通常の測定より緩やかに乾燥温度を上昇させる。「ステップ乾燥モード」では、複数のステップから構成され、ステップ毎に乾燥温度と測定時間（若しくは乾燥終了時間）とを設定する。
【０００９】
よって、温度制御シーケンス設定部８１ａは、入力装置２５によって一つの「温度制御シーケンス」が選択されることにより、選択された「温度制御シーケンス」をメモリ１８２に記憶させ、さらに選択された「温度制御シーケンス」によって必要な乾燥温度等の条件が入力装置２５によって設定されることにより、設定された乾燥温度等の条件を温度制御シーケンス記憶領域１８２ａに記憶させる制御を行う。
そして、温度制御シーケンス実行部１８１ｂは、温度制御シーケンス記憶領域１８２ａに記憶された「温度制御シーケンス」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。
【００１０】
ここで、電子水分計１０１で「時間停止モード」を選択して設定して、設定した「時間停止モード」を実行する使用方法について説明する。
まず、測定者は、入力装置２５を用いて「時間停止モード」を選択する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは選択された「時間停止モード」を温度制御シーケンス記憶領域１８２ａに記憶させる。
次に、「時間停止モード」を記憶させた場合には、さらに測定者は入力装置２５を用いて乾燥温度と測定時間とを設定する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは乾燥温度と測定時間とを温度制御シーケンス記憶領域１８２ａに記憶させる。例えば、「８０℃、１００分」を記憶させる。図３（ａ）は、「８０℃、１００分」の「時間停止モード」における時間と温度との関係を示すグラフである。
そして、温度制御シーケンス実行部１８１ｂは、温度制御シーケンス記憶領域１８２ａに記憶された「時間停止モード」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。例えば、８０℃になるまで温度上昇するようにハロゲンヒータ６０を制御し、８０℃を１００分間維持するようにハロゲンヒータ６０を制御する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２００３−３０２３２４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、電子水分計１０１では、温度制御シーケンス実行部１８１ｂが「時間停止モード」を実行してしまえば、試料の水分量が予想より低く、試料が焦げそうな場合でも、乾燥温度を途中で下げることができなかった。また、試料の水分量が予想より高く、試料を速く乾燥させたい場合でも、乾燥温度を途中で上げることができなかった。つまり、温度制御シーケンス実行部１８１ｂは、予め乾燥温度と測定時間とを設定した「時間停止モード」に従うため、状況に応じた温度制御ができないという問題点があった。
そこで、本発明は、予め乾燥温度を設定した温度制御シーケンスを実行している最中に、乾燥温度を変更することができる水分計を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するためになされた本発明の水分計は、荷重を検出する荷重検出部と試料が載置される試料皿とを有する天秤本体部と、加熱体が取り付けられた天秤蓋部と、入力装置と、前記加熱体、前記荷重検出部及び前記入力装置を制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記入力装置によって乾燥温度が設定された温度制御シーケンスを記憶部に記憶させて実行する水分計であって、前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行するようにしている。
【発明の効果】
【００１４】
以上のように、本発明の水分計によれば、予め乾燥温度を設定した温度制御シーケンスを実行している最中に、試料が焦げそうな場合や試料を速く乾燥させたい場合に、乾燥温度を変更することができる。
【００１５】
（他の課題を解決するための手段および効果）
また、本発明の水分計は、前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行するともに、実際に実行した温度制御シーケンスを記憶部に記憶させるようにしてもよい。
以上のように、本発明の水分計によれば、実際に実行した温度制御シーケンスを記憶部に記憶させるので、同じ種類の試料を改めて測定する際に、状況に応じて作成した温度制御シーケンスで測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明に係る電子水分計の構成を示す斜視図。
【図２】図１に示す電子水分計の構成の一例を示すブロック図。
【図３】「時間停止モード」における時間と温度との関係を示すグラフ。
【図４】「ステップ乾燥モード」における時間と温度との関係を示すグラフ。
【図５】従来の電子水分計の構成を示す斜視図。
【図６】図５に示す電子水分計の構成の一例を示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれる。
【００１８】
図１は、本発明に係る電子水分計の構成を示す斜視図である。なお、図１は、蓋を開けた状態の電子水分計である。また、図２は、図１に示す電子水分計の構成の一例を示すブロック図である。
電子水分計１は、荷重を検出する荷重検出センサ（荷重検出部）１０が収容されるケース（本体筐体）２０と制御部８０とを有する天秤本体部５０と、荷重検出センサ１０に取り付けられ試料が載置される試料皿４０と、直管型のハロゲンヒータ（加熱体）６０とケース（蓋筐体）７０とを有する天秤蓋部９０とを備える。
【００１９】
制御部８０は、ＣＰＵ８１とメモリ（記憶部）８２とを備え、さらに入力装置２５と表示装置２４とが連結されている。ＣＰＵ８１が処理する機能をブロック化して説明すると、温度制御シーケンスを設定する温度制御シーケンス設定部８１ａと、ハロゲンヒータ６０を制御する温度制御シーケンス実行部８１ｂと、変位センサからの検出信号に基づいて持出部材の先端部の変位が０となるようにサーボ機構を制御する測定部８１ｃと、表示装置２４に「水分率」等を表示する表示制御部８１ｄと、温度制御シーケンスを変更する温度制御シーケンス変更部８１ｅとを有する。また、メモリ８２は、作成された温度制御シーケンスを記憶する温度制御シーケンス記憶領域８２ａと、変更された温度制御シーケンスを記憶する新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂとを有する。
【００２０】
温度制御シーケンス変更部８１ｅは、温度制御シーケンスを実行している最中に、入力装置２５によって温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶させる制御を行う。
温度制御シーケンス実行部８１ｂは、温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶された「温度制御シーケンス」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。そして、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、温度制御シーケンスを実行している最中に、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに「温度制御シーケンス」が記憶されれば、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶された「温度制御シーケンス」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。
【００２１】
ここで、電子水分計１で「時間停止モード」を選択して設定して、設定した「時間停止モード」を実行する使用方法の一例について説明する。
まず、測定者は、入力装置２５を用いて「時間停止モード」を選択する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは、選択された「時間停止モード」を温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶させる。
次に、「時間停止モード」を記憶させた場合には、さらに測定者は入力装置２５を用いて乾燥温度と測定時間とを設定する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは、乾燥温度と測定時間とを温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶させる。例えば、「８０℃、１００分」を記憶させる。図３（ａ）は、「８０℃、１００分」の「時間停止モード」における時間と温度との関係を示すグラフである。
そして、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶された「時間停止モード」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。例えば、８０℃になるまで温度上昇するようにハロゲンヒータ６０を制御し、８０℃を１００分間維持するようにハロゲンヒータ６０を制御する。
【００２２】
ところで、本発明では、上述したような「時間停止モード」を実行している最中に、入力装置２５によって「時間停止モード」に設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、「時間停止モード」に設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行することができる。例えば、８０℃を１０分間維持している際に試料が焦げそうな場合には、測定者は、入力装置２５を用いて乾燥温度「８０℃」を変更するための温度「７０℃」を入力する。これにより、温度制御シーケンス変更部８１ｅは、「時間停止モード」に設定された乾燥温度「８０℃」を入力された温度「７０℃」に変更して新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶させる。図３（ｂ）は、「８０℃、１０分→７０℃、９０分」の「時間停止モード」における時間と温度との関係を示すグラフである。
そして、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶された「時間停止モード」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。よって、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、７０℃になるようにハロゲンヒータ６０を制御し、７０℃を９０分間維持するようにハロゲンヒータ６０を制御する。
このとき、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂには、実際に実行した「８０℃、１０分→７０℃、９０分」が記憶されることになる。よって、同じ種類の試料を改めて測定する際に、「８０℃、１０分→７０℃、９０分」の温度制御シーケンスを選択して設定することもできる。
【００２３】
ここで、電子水分計１で「ステップ乾燥モード」を選択して設定して、設定した「ステップ乾燥モード」を実行する使用方法の一例について説明する。
まず、測定者は、入力装置２５を用いて「ステップ乾燥モード」を選択する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは、選択された「ステップ乾燥モード」を温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶させる。
次に、「ステップ乾燥モード」を記憶させた場合には、さらに測定者は入力装置２５を用いて各ステップ毎に乾燥温度と測定時間とを設定する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは乾燥温度と測定時間とを温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶させる。例えば、「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、５分のステップ２→１０５℃、１５分のステップ３」を記憶させる。図４（ａ）は、「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、５分のステップ２→１０５℃、１５分のステップ３」の「ステップ乾燥モード」における時間と温度との関係を示すグラフである。
【００２４】
そして、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶された「ステップ乾燥モード」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。よって、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、５分のステップ２→１０５℃、１５分のステップ３」とハロゲンヒータ６０を制御する。
ところで、本発明では、上述したような「ステップ乾燥モード」を実行している最中に、入力装置２５によって「ステップ乾燥モード」に設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、「ステップ乾燥モード」に設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行することができる。例えば、ステップ２の１００℃を２分間維持している際に試料を速く乾燥させたい場合には、測定者は、入力装置２５を用いて乾燥温度「１００℃」を変更するための温度「１０５℃」を入力する。これにより、温度制御シーケンス変更部８１ｅは、「ステップ乾燥モード」に設定された乾燥温度「１００℃」を入力された温度「１０５℃」に変更して新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶させる。図４（ｂ）は、「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、２分のステップ２→１０５℃、３分のステップ２’→１０５℃、１５分のステップ３」の「ステップ乾燥モード」における時間と温度との関係を示すグラフである。
【００２５】
そして、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶された「ステップ乾燥モード」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。よって、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、１０５℃になるまで温度上昇するようにハロゲンヒータ６０を制御し、１０５℃を３分間維持するようにハロゲンヒータ６０を制御する。
このとき、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂには、実際に実行した「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、２分のステップ２→１０５℃、３分のステップ２’→１０５℃、１５分のステップ３」が記憶されることになる。よって、同じ種類の試料を改めて測定する際に、「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、２分のステップ２→１０５℃、３分のステップ２’→１０５℃、１５分のステップ３」の温度制御シーケンスを選択して設定することもできる。
【００２６】
以上のように、本発明の電子水分計１によれば、予め乾燥温度を設定した温度制御シーケンスを実行している最中に、試料が焦げそうな場合や試料を速く乾燥させたい場合に、乾燥温度を変更することができる。また、実際に実行した温度制御シーケンスをメモリ８２に記憶させるので、同じ種類の試料を改めて測定する際に、状況に応じて作成した温度制御シーケンスで測定することができる。
【産業上の利用可能性】
【００２７】
本発明は、電子水分計等に好適に利用できる。
【符号の説明】
【００２８】
１ 電子水分計
１０ 荷重検出センサ
２４ 表示装置
２５ 入力装置
４０ 試料皿
５０ 天秤本体部
６０ ハロゲンヒータ（加熱体）
８０ 制御部
９０ 天秤蓋部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、水分計に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子水分計は、試料皿に載置された試料を加熱乾燥して試料の重量の減少から試料に含まれる水分率を測定するものである（例えば、特許文献１参照）。
図５は、従来の電子水分計の構成を示す斜視図である。なお、図５は、蓋を開けた状態の電子水分計である。また、図６は、図５に示す電子水分計の構成の一例を示すブロック図である。
このような電子水分計１０１は、荷重を検出する荷重検出センサ（荷重検出部）１０が収容されるケース（本体筐体）２０と制御部１８０とを有する天秤本体部５０と、荷重検出センサ１０に取り付けられ試料が載置される試料皿４０と、直管型のハロゲンヒータ（加熱体）６０とケース（蓋筐体）７０とを有する天秤蓋部９０とを備える。
【０００３】
ケース２０は、四角形状の上板（上面）２１の中央部に円環形状の風防２２が形成されており、円環形状の風防２２の中心に位置する部分の上板２１には、上下方向に上板２１を貫通する円形状の軸穴が形成されている。
また、上板２１の前部には表示装置２４と入力装置２５とが形成されており、表示装置２４に「水分率」等が表示されるとともに、入力装置２５を用いて温度制御シーケンス等が設定されるようになっている。
【０００４】
荷重検出センサ１０は、直方体形状のアルミニウム合金製のブロック体であり、ロバーバル機構と、第一レバーと、第二レバーと、ロバーバル機構と第一レバーと第二レバーとを連結する連結部材とが、前後方向に貫通する孔やスリット等を設けることによって形成されている。
ロバーバル機構は、ケース２０に取付部材を介して固定される固定柱と、金属製の円柱形状の連結軸が結合される可動柱と、両端部に可撓部（ヒンジ部）を有する２本の梁とから構成される。そして、可動柱と固定柱とを、互いに平行な２本の梁によって連結した構造となっている。
【０００５】
第二レバーの他端部には、持出部材の基端部がネジ等によって固定される。これにより、試料の荷重は、可動柱と連結部材と第一レバーと連結部材と第二レバーとを介して、持出部材の先端部を傾動させるようになっている。このような持出部材の先端部の変位は、ケース２０に固定された変位センサによって検出される。また、持出部材の先端部には、電磁力発生装置のフォースコイルが固着されている。これにより、電磁力発生装置のフォースコイルに流される電流の大きさは、変位センサからの検出信号に基づいて、持出部材の先端部の変位が０となるようにサーボ機構によって制御される。
なお、連結軸の下端部が、荷重検出センサ１０の可動柱の上面に結合されているとともに、連結軸の上端部に試料皿４０が測定者によって取り付け取り外し可能となっている。
そして、荷重検出センサ１０は、ケース２０の内部空間に配置されるとともに、連結軸は、ケース２０の内側から軸穴を通って風防２２の中央に配置されている。
【０００６】
ケース７０は、円形の上板と上板の周縁部から下方に伸びた円筒状の側壁とを有し、上板の下面にはハロゲンヒータ６０が取り付けられている。
そして、側壁の一部の下部とケース２０の上板２１の後側とを軸として、ケース７０が回動可能に取り付けられている。このとき、ケース７０が閉じられた際には、ケース７０が風防２２を覆うようになり、一方、ケース７０が開けられた際には、ケース７０の上板は、ケース２０の上板２１と垂直となるようになっている。
【０００７】
制御部１８０は、ＣＰＵ１８１とメモリ（記憶部）１８２とを備え、さらに入力装置２５と表示装置２４とが連結されている。ＣＰＵ１８１が処理する機能をブロック化して説明すると、温度制御シーケンスを設定する温度制御シーケンス設定部８１ａと、ハロゲンヒータ６０を制御する温度制御シーケンス実行部１８１ｂと、変位センサからの検出信号に基づいて持出部材の先端部の変位が０となるようにサーボ機構を制御する測定部８１ｃと、表示装置２４に「水分率」等を表示する表示制御部８１ｄとを有する。また、メモリ１８２は、作成された温度制御シーケンスを記憶する温度制御シーケンス記憶領域１８２ａを有する。
なお、「水分率」とは、試料の初期重量をＷとし、試料の現在重量をＤとし、Ｍ＝Ｗ−Ｄとすると、Ｄ／ＷやＭ／ＷやＷ／Ｄで表され、試料の種類や測定内容に対応して適宜、選択されるようになっている。
【０００８】
このような電子水分計１０１では、試料の種類や測定内容に対応して適切な内容に予め設定された複数の「温度制御シーケンス」の内から適切な一つの「温度制御シーケンス」を選択して設定することが可能となっている。例えば、「温度制御シーケンス」として、「自動停止モード」と「時間停止モード」と「急速乾燥モード」と「緩速乾燥モード」と「ステップ乾燥モード」との５種類の「温度制御シーケンス」を設定することが可能となっている。
「自動停止モード」では、３０秒間の水分変化量が設定した閾値以下になると、測定を終了する。「時間停止モード」では、設定した時間に達すると、測定を終了する。「急速乾燥モード」では、３０秒間の水分変化量が設定した閾値以下になるまで、急速乾燥温度で乾燥を行い、その後は設定した乾燥温度で乾燥を行う。「緩速乾燥モード」では、通常の測定より緩やかに乾燥温度を上昇させる。「ステップ乾燥モード」では、複数のステップから構成され、ステップ毎に乾燥温度と測定時間（若しくは乾燥終了時間）とを設定する。
【０００９】
よって、温度制御シーケンス設定部８１ａは、入力装置２５によって一つの「温度制御シーケンス」が選択されることにより、選択された「温度制御シーケンス」をメモリ１８２に記憶させ、さらに選択された「温度制御シーケンス」によって必要な乾燥温度等の条件が入力装置２５によって設定されることにより、設定された乾燥温度等の条件を温度制御シーケンス記憶領域１８２ａに記憶させる制御を行う。
そして、温度制御シーケンス実行部１８１ｂは、温度制御シーケンス記憶領域１８２ａに記憶された「温度制御シーケンス」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。
【００１０】
ここで、電子水分計１０１で「時間停止モード」を選択して設定して、設定した「時間停止モード」を実行する使用方法について説明する。
まず、測定者は、入力装置２５を用いて「時間停止モード」を選択する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは選択された「時間停止モード」を温度制御シーケンス記憶領域１８２ａに記憶させる。
次に、「時間停止モード」を記憶させた場合には、さらに測定者は入力装置２５を用いて乾燥温度と測定時間とを設定する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは乾燥温度と測定時間とを温度制御シーケンス記憶領域１８２ａに記憶させる。例えば、「８０℃、１００分」を記憶させる。図３（ａ）は、「８０℃、１００分」の「時間停止モード」における時間と温度との関係を示すグラフである。
そして、温度制御シーケンス実行部１８１ｂは、温度制御シーケンス記憶領域１８２ａに記憶された「時間停止モード」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。例えば、８０℃になるまで温度上昇するようにハロゲンヒータ６０を制御し、８０℃を１００分間維持するようにハロゲンヒータ６０を制御する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２００３−３０２３２４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、電子水分計１０１では、温度制御シーケンス実行部１８１ｂが「時間停止モード」を実行してしまえば、試料の水分量が予想より低く、試料が焦げそうな場合でも、乾燥温度を途中で下げることができなかった。また、試料の水分量が予想より高く、試料を速く乾燥させたい場合でも、乾燥温度を途中で上げることができなかった。つまり、温度制御シーケンス実行部１８１ｂは、予め乾燥温度と測定時間とを設定した「時間停止モード」に従うため、状況に応じた温度制御ができないという問題点があった。
そこで、本発明は、予め乾燥温度を設定した温度制御シーケンスを実行している最中に、乾燥温度を変更することができる水分計を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するためになされた本発明の水分計は、荷重を検出する荷重検出部と試料が載置される試料皿とを有する天秤本体部と、加熱体が取り付けられた天秤蓋部と、入力装置と、前記加熱体、前記荷重検出部及び前記入力装置を制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記入力装置によって乾燥温度が設定された温度制御シーケンスを記憶部に記憶させて実行する水分計であって、前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行するようにしている。
【発明の効果】
【００１４】
以上のように、本発明の水分計によれば、予め乾燥温度を設定した温度制御シーケンスを実行している最中に、試料が焦げそうな場合や試料を速く乾燥させたい場合に、乾燥温度を変更することができる。
【００１５】
（他の課題を解決するための手段および効果）
また、本発明の水分計は、前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行するともに、実際に実行した温度制御シーケンスを記憶部に記憶させるようにしてもよい。
以上のように、本発明の水分計によれば、実際に実行した温度制御シーケンスを記憶部に記憶させるので、同じ種類の試料を改めて測定する際に、状況に応じて作成した温度制御シーケンスで測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明に係る電子水分計の構成を示す斜視図。
【図２】図１に示す電子水分計の構成の一例を示すブロック図。
【図３】「時間停止モード」における時間と温度との関係を示すグラフ。
【図４】「ステップ乾燥モード」における時間と温度との関係を示すグラフ。
【図５】従来の電子水分計の構成を示す斜視図。
【図６】図５に示す電子水分計の構成の一例を示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれる。
【００１８】
図１は、本発明に係る電子水分計の構成を示す斜視図である。なお、図１は、蓋を開けた状態の電子水分計である。また、図２は、図１に示す電子水分計の構成の一例を示すブロック図である。
電子水分計１は、荷重を検出する荷重検出センサ（荷重検出部）１０が収容されるケース（本体筐体）２０と制御部８０とを有する天秤本体部５０と、荷重検出センサ１０に取り付けられ試料が載置される試料皿４０と、直管型のハロゲンヒータ（加熱体）６０とケース（蓋筐体）７０とを有する天秤蓋部９０とを備える。
【００１９】
制御部８０は、ＣＰＵ８１とメモリ（記憶部）８２とを備え、さらに入力装置２５と表示装置２４とが連結されている。ＣＰＵ８１が処理する機能をブロック化して説明すると、温度制御シーケンスを設定する温度制御シーケンス設定部８１ａと、ハロゲンヒータ６０を制御する温度制御シーケンス実行部８１ｂと、変位センサからの検出信号に基づいて持出部材の先端部の変位が０となるようにサーボ機構を制御する測定部８１ｃと、表示装置２４に「水分率」等を表示する表示制御部８１ｄと、温度制御シーケンスを変更する温度制御シーケンス変更部８１ｅとを有する。また、メモリ８２は、作成された温度制御シーケンスを記憶する温度制御シーケンス記憶領域８２ａと、変更された温度制御シーケンスを記憶する新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂとを有する。
【００２０】
温度制御シーケンス変更部８１ｅは、温度制御シーケンスを実行している最中に、入力装置２５によって温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶させる制御を行う。
温度制御シーケンス実行部８１ｂは、温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶された「温度制御シーケンス」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。そして、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、温度制御シーケンスを実行している最中に、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに「温度制御シーケンス」が記憶されれば、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶された「温度制御シーケンス」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。
【００２１】
ここで、電子水分計１で「時間停止モード」を選択して設定して、設定した「時間停止モード」を実行する使用方法の一例について説明する。
まず、測定者は、入力装置２５を用いて「時間停止モード」を選択する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは、選択された「時間停止モード」を温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶させる。
次に、「時間停止モード」を記憶させた場合には、さらに測定者は入力装置２５を用いて乾燥温度と測定時間とを設定する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは、乾燥温度と測定時間とを温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶させる。例えば、「８０℃、１００分」を記憶させる。図３（ａ）は、「８０℃、１００分」の「時間停止モード」における時間と温度との関係を示すグラフである。
そして、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶された「時間停止モード」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。例えば、８０℃になるまで温度上昇するようにハロゲンヒータ６０を制御し、８０℃を１００分間維持するようにハロゲンヒータ６０を制御する。
【００２２】
ところで、本発明では、上述したような「時間停止モード」を実行している最中に、入力装置２５によって「時間停止モード」に設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、「時間停止モード」に設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行することができる。例えば、８０℃を１０分間維持している際に試料が焦げそうな場合には、測定者は、入力装置２５を用いて乾燥温度「８０℃」を変更するための温度「７０℃」を入力する。これにより、温度制御シーケンス変更部８１ｅは、「時間停止モード」に設定された乾燥温度「８０℃」を入力された温度「７０℃」に変更して新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶させる。図３（ｂ）は、「８０℃、１０分→７０℃、９０分」の「時間停止モード」における時間と温度との関係を示すグラフである。
そして、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶された「時間停止モード」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。よって、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、７０℃になるようにハロゲンヒータ６０を制御し、７０℃を９０分間維持するようにハロゲンヒータ６０を制御する。
このとき、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂには、実際に実行した「８０℃、１０分→７０℃、９０分」が記憶されることになる。よって、同じ種類の試料を改めて測定する際に、「８０℃、１０分→７０℃、９０分」の温度制御シーケンスを選択して設定することもできる。
【００２３】
ここで、電子水分計１で「ステップ乾燥モード」を選択して設定して、設定した「ステップ乾燥モード」を実行する使用方法の一例について説明する。
まず、測定者は、入力装置２５を用いて「ステップ乾燥モード」を選択する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは、選択された「ステップ乾燥モード」を温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶させる。
次に、「ステップ乾燥モード」を記憶させた場合には、さらに測定者は入力装置２５を用いて各ステップ毎に乾燥温度と測定時間とを設定する。これにより、温度制御シーケンス設定部８１ａは乾燥温度と測定時間とを温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶させる。例えば、「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、５分のステップ２→１０５℃、１５分のステップ３」を記憶させる。図４（ａ）は、「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、５分のステップ２→１０５℃、１５分のステップ３」の「ステップ乾燥モード」における時間と温度との関係を示すグラフである。
【００２４】
そして、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、温度制御シーケンス記憶領域８２ａに記憶された「ステップ乾燥モード」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。よって、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、５分のステップ２→１０５℃、１５分のステップ３」とハロゲンヒータ６０を制御する。
ところで、本発明では、上述したような「ステップ乾燥モード」を実行している最中に、入力装置２５によって「ステップ乾燥モード」に設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、「ステップ乾燥モード」に設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行することができる。例えば、ステップ２の１００℃を２分間維持している際に試料を速く乾燥させたい場合には、測定者は、入力装置２５を用いて乾燥温度「１００℃」を変更するための温度「１０５℃」を入力する。これにより、温度制御シーケンス変更部８１ｅは、「ステップ乾燥モード」に設定された乾燥温度「１００℃」を入力された温度「１０５℃」に変更して新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶させる。図４（ｂ）は、「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、２分のステップ２→１０５℃、３分のステップ２’→１０５℃、１５分のステップ３」の「ステップ乾燥モード」における時間と温度との関係を示すグラフである。
【００２５】
そして、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂに記憶された「ステップ乾燥モード」に基づいてハロゲンヒータ６０を制御する。よって、温度制御シーケンス実行部８１ｂは、１０５℃になるまで温度上昇するようにハロゲンヒータ６０を制御し、１０５℃を３分間維持するようにハロゲンヒータ６０を制御する。
このとき、新温度制御シーケンス記憶領域８２ｂには、実際に実行した「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、２分のステップ２→１０５℃、３分のステップ２’→１０５℃、１５分のステップ３」が記憶されることになる。よって、同じ種類の試料を改めて測定する際に、「８０℃、１０分のステップ１→１００℃、２分のステップ２→１０５℃、３分のステップ２’→１０５℃、１５分のステップ３」の温度制御シーケンスを選択して設定することもできる。
【００２６】
以上のように、本発明の電子水分計１によれば、予め乾燥温度を設定した温度制御シーケンスを実行している最中に、試料が焦げそうな場合や試料を速く乾燥させたい場合に、乾燥温度を変更することができる。また、実際に実行した温度制御シーケンスをメモリ８２に記憶させるので、同じ種類の試料を改めて測定する際に、状況に応じて作成した温度制御シーケンスで測定することができる。
【産業上の利用可能性】
【００２７】
本発明は、電子水分計等に好適に利用できる。
【符号の説明】
【００２８】
１ 電子水分計
１０ 荷重検出センサ
２４ 表示装置
２５ 入力装置
４０ 試料皿
５０ 天秤本体部
６０ ハロゲンヒータ（加熱体）
８０ 制御部
９０ 天秤蓋部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
荷重を検出する荷重検出部と試料が載置される試料皿とを有する天秤本体部と、
加熱体が取り付けられた天秤蓋部と、
入力装置と、
前記加熱体、前記荷重検出部及び前記入力装置を制御する制御部とを備え、
前記制御部は、前記入力装置によって乾燥温度が設定された温度制御シーケンスを記憶部に記憶させて実行する水分計であって、
前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行することを特徴とする水分計。
【請求項２】
前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行するともに、実際に実行した温度制御シーケンスを記憶部に記憶させることを特徴とする請求項１に記載の水分計。
【請求項１】
荷重を検出する荷重検出部と試料が載置される試料皿とを有する天秤本体部と、
加熱体が取り付けられた天秤蓋部と、
入力装置と、
前記加熱体、前記荷重検出部及び前記入力装置を制御する制御部とを備え、
前記制御部は、前記入力装置によって乾燥温度が設定された温度制御シーケンスを記憶部に記憶させて実行する水分計であって、
前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行することを特徴とする水分計。
【請求項２】
前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行するともに、実際に実行した温度制御シーケンスを記憶部に記憶させることを特徴とする請求項１に記載の水分計。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２０１２−１６８０３１（Ｐ２０１２−１６８０３１Ａ）
【公開日】平成２４年９月６日（２０１２．９．６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２９６０９（Ｐ２０１１−２９６０９）
【出願日】平成２３年２月１５日（２０１１．２．１５）
【出願人】（０００００１９９３）株式会社島津製作所 (3,708)
【公開日】平成２４年９月６日（２０１２．９．６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年２月１５日（２０１１．２．１５）
【出願人】（０００００１９９３）株式会社島津製作所 (3,708)
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