説明

波形測定装置

【課題】高確度且つ広帯域の周波数の波形測定を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明の波形測定装置1は、波形を測定する高精度波形測定器5と、高精度波形測定器5よりも確度が低く且つ広帯域の周波数の波形を測定する広帯域波形測定器6と、高精度波形測定器5が測定する高精度波形データHDを基準として広帯域波形測定器6が測定する広帯域波形データWDのゲイン誤差ΔGおよびオフセット誤差ΔAを演算する演算部14と、ゲイン誤差ΔGおよびオフセット誤差ΔAの分だけ広帯域波形データWDを補正する補正部15と、を備えている。これにより、確度の高い高精度波形データWDを基準として広帯域の広帯域波形データWDの補正できるため、高確度且つ広帯域の周波数の波形測定を行うことが可能になる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、測定対象の電圧や電流等の波形を測定する波形測定装置に関するものである。
【背景技術】
【0002】
自動車のモータの駆動等には直流電源を交流電源に変換するためのインバータ電源が用いられる。このインバータ電源により交流電源に変換された電圧や電流が正常であるか否かを測定するために、オシロスコープが用いられる。オシロスコープには差動プローブを接続して、この差動プローブを用いてインバータ電源の出力波形を測定する。これにより、インバータ電源の電圧や電流を測定する。この種の技術としては特許文献1に開示されている技術がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開2010−158152号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
一般に、オシロスコープのような波形測定器は、広帯域の周波数の電圧の波形を測定することができるが、広帯域であるがために測定した波形の確度(精度)が低下する(不確かになる)。測定する電圧の波形に極めて高い確度が要求されるような場合には、広帯域に対応したオシロスコープでは当該要求を充足することができない。
【0005】
一方、オシロスコープよりも確度の高い波形測定を行う波形測定器を用いることができる。これにより、波形の測定に高い確度が要求されるような場合に対応することができる。ただし、高い確度で測定する波形測定器は広帯域の周波数の測定を行うことはできない。つまり、測定対象となる周波数帯域は狭帯域になる。
【0006】
従って、電圧や電流の波形を測定する波形測定器は、高い確度で測定することを優先させる場合には広帯域の周波数の測定を行うことができず、広帯域の周波数の測定を行うことを優先させる場合には測定の確度が低下する。
【0007】
そこで、本発明は、高確度且つ広帯域の周波数の波形測定を行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
以上の課題を解決するため、本発明の波形測定装置は、波形を測定する第1の波形測定器と、この第1の波形測定器よりも確度が低く且つ広帯域の周波数の前記波形を測定する第2の波形測定器と、前記第1の波形測定器が測定する第1の波形データを基準として前記第2の波形測定器が測定する第2の波形データの誤差を演算する演算部と、前記誤差の分だけ前記第2の波形データを補正する補正部と、を備えたことを特徴とする。
【0009】
この波形測定装置によれば、確度の高い第1の波形データに基づいて第2の波形データに生じる誤差を補正している。これにより、広帯域の第2の波形データを高確度に補正することができ、高確度且つ広帯域の波形測定を行うことが可能になる。
【0010】
また、前記演算部は、前記第1の波形データのゲインおよびオフセットに対する前記第2の波形データのゲインおよびオフセットに基づいて前記誤差を演算することを特徴とする。
【0011】
第1の波形データと第2の波形データとでゲインおよびオフセットを比較することで、確度の高い第1の波形データを基準としたときの第2の波形データの誤差を演算することができ、高確度且つ広帯域の波形測定を行うことができる。
【0012】
また、前記第2の波形データのうち前記第1の波形測定器が測定する周波数帯域の成分のみを抽出する周波数フィルタを備え、前記演算部は、前記周波数フィルタにより抽出された前記第2の波形データと前記第1の波形データとに基づいて前記誤差を演算することを特徴とする。
【0013】
第2の波形データの周波数帯域は第1の波形データの周波数帯域と重複しているが、第2の波形データは広帯域になっている。このため、第2の波形データのうち第1の波形データと重複している帯域を抽出することで、誤差を算出するときに比較する波形の基準を統一でき、簡単な演算を行うことができる。
【0014】
また、前記第2の波形データのうち予め設定された変化量よりも大きく波形が変化している部分は前記補正部により補正された前記第2の波形データを用い、それ以外の部分は前記第1の波形データを用いて合成する波形合成部を備えたことを特徴とする。
【0015】
第2の波形データは第1の波形データよりも確度が低いため、高速な波形変化を測定することができる。高速に波形が変化する部分には第2の波形データを用い、それ以外の低速に波形が変化する部分には確度の高い第1の波形データを用いることで、正確且つ高速に波形測定を行うことができる。
【0016】
また、前記第1の波形測定器と前記第2の波形測定器とのうち何れか一方から他方に対して前記波形の測定の開始を示すトリガ信号を出力することを特徴とする。
【0017】
第1の波形測定器と第2の波形測定器とは測定対象の同じ波形を測定しなければならない。このため、トリガ信号を出力することで、第1の波形測定器と第2の波形測定器とを同期させることができ、正確な波形測定を行うことが可能になる。
【発明の効果】
【0018】
本発明は、確度の高い第1の波形測定器の波形データを基準として広帯域の周波数の波形を測定する第2の波形測定器の波形データの誤差分を補正しているため、高確度且つ広帯域の周波数の波形測定を行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【0019】
【図1】実施形態の波形測定装置の構成を示すブロック図である。
【図2】波形処理部の構成を示すブロック図である。
【図3】各部で処理される波形の一例を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【0020】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。図1は実施形態の波形測定装置1を示している。図1の波形測定装置1は測定対象2とフローティング電圧部3と差動プローブ4と高精度波形測定器5と広帯域波形測定器6と波形処理部7と波形表示部8とを備えて構成している。
【0021】
測定対象2は波形測定を行う対象物になる。測定対象としては直流電源から交流電源に変換を行うインバータ電源等がある。勿論、測定対象2としては、電流や電圧等の波形を出力するものであれば任意のものを適用することができる。フローティング電圧部3は電位が0ボルトのグランドから所定の電圧をフローティングさせている。
【0022】
差動プローブ4は測定対象2の正側と負側(フローティング電圧部3の電圧)とに接続して、差動電圧を検出する。差動プローブ4が検出した差動電圧は広帯域波形測定器6に出力している。従って、広帯域波形測定器6は差動プローブ4が検出した差動電圧、つまり測定対象2の電圧の波形を測定する。
【0023】
高精度波形測定器5は第1の波形測定器であり、測定対象2の正側と負側とを入力している。これにより、測定対象2の電圧の波形を測定する。また、広帯域波形測定器6は第2の波形測定器であり、差動プローブ4が検出した測定対象2の電圧の波形を測定する。従って、高精度波形測定器5と広帯域波形測定器6とは同じ波形の測定を行なっていることになる。
【0024】
高精度波形測定器5は広帯域波形測定器6よりも確度(精度)が高い波形測定を行うことができる。これにより、広帯域波形測定器6が測定した波形よりも高精度波形測定器5が測定した波形の方が正確性に優れている。ただし、確度が高いため、狭小な周波数帯域のみが測定対象となる。特に、低周波の帯域のみが測定対象となる。例えば、直流から10MHzといった狭小な低周波の帯域の波形が測定対象となる。
【0025】
広帯域波形測定器6は広帯域の波形を測定することができる。例えば、直流から数百MHz以上といった広範な周波数帯域の波形が測定対象となる。この広帯域波形測定器6が測定対象とする周波数帯域は高精度波形測定器5が測定対象とする周波数帯域を含んでいる。ただし、広範な周波数帯域を測定可能にしているため、広帯域波形測定器6の波形測定の確度は高精度波形測定器5よりも低くなっている。
【0026】
高精度波形測定器5から広帯域波形測定器6に対してトリガ信号trigを出力している。これにより、高精度波形測定器5の測定開始のタイミングと広帯域波形測定器6の測定開始のタイミングとを同期させるようにしている。この同期を取ることで、高精度波形測定器5と広帯域波形測定器6とは同じタイミングで波形測定を開始させることができ、同じ波形を測定することができる。なお、広帯域波形測定器6から高精度波形測定器5にトリガ信号を出力させてもよい。
【0027】
高精度波形測定器5が測定した波形は高精度波形データ(第1の波形データ)HDとして波形処理部7に出力される。広帯域波形測定器6が測定した波形は広帯域波形データ(第2の波形データ)WDとして波形処理部7に出力される。波形処理部7は高精度波形データHDおよび広帯域波形データWDに基づいて処理を行う。
【0028】
図2に示すように、波形処理部7は高精度波形データ入力部11と広帯域波形データ入力部12とローパスフィルタ13と演算部14と補正部15と波形合成部16とを備えて構成している。高精度波形データ入力部11は入力した高精度波形データHDを演算部14および波形合成部16に出力する。広帯域波形データ入力部12は入力した広帯域波形データWDをローパスフィルタ13および補正部15に出力する。
【0029】
ローパスフィルタ13は広帯域波形データWDのうち低周波の周波数成分のみを抽出する周波数フィルタである。ローパスフィルタ13が抽出する周波数成分は高精度波形測定器5が測定対象とする周波数帯域と一致させる。
【0030】
ローパスフィルタ13により高精度波形データHDと同じ周波数成分のみが抽出された広帯域波形データWDは演算部14に入力される。演算部14は、高精度波形データHDおよびフィルタ(ローパスフィルタ13)通過後の広帯域波形データWDを入力する。そして、高精度波形データHDおよびフィルタ通過後の広帯域波形データWDを用いて誤差量(ゲイン誤差ΔGおよびオフセット誤差ΔA)を演算する。
【0031】
補正部15は広帯域波形データ入力部12から広帯域波形データWDを入力している。そして、演算部14が演算した誤差量に基づいて、広帯域波形データWDを補正する。この補正した広帯域波形データWDを波形合成部16に出力する。
【0032】
波形合成部16には変化量の閾値が設定されており、補正後の広帯域波形データWDの変化量が閾値を超過していれば広帯域波形データWDを用い、それ以外(閾値以下)の場合には高精度波形データHDを用いるように波形の合成を行う。合成した波形のデータは合成波形データCDとして波形表示部8に出力される。波形表示部8はディスプレイ等の表示装置であり、合成波形データCDを表示する。これにより、波形表示部8を視認することで、測定対象2の出力電圧の波形を認識できる。
【0033】
次に、動作について説明する。測定対象2は交流電圧を出力する。測定対象2の電圧が高精度波形測定器5および差動プローブ4に入力される。差動プローブ4に入力される差動電圧は広帯域波形測定器6に入力される。このため、高精度波形測定器5および広帯域波形測定器6は測定対象2の同じ電圧の波形を測定する。なお、測定する対象は差動プローブの代わりに電流プローブ等を用いて電流としてもよい。
【0034】
高精度波形測定器5は広帯域波形測定器6にトリガ信号trigを出力する。これにより、同じタイミングで高精度波形測定器5と広帯域波形測定器6とは波形の測定を開始する。高精度波形測定器5が測定する波形は高精度波形データHDとして、広帯域波形測定器6が測定する波形は広帯域波形データWDとして波形処理部7に入力される。
【0035】
波形処理部7の高精度波形データ入力部11は高精度波形データHDを入力し、広帯域波形データ入力部12は広帯域波形データWDを入力する。このときの高精度波形データHDおよび広帯域波形データWDの例を図3a)に示す。なお、同図a)のときの高精度波形データHDと広帯域波形データWDとは周波数帯域が異なっている。
【0036】
広帯域波形データ入力部12が入力した広帯域波形データWDはローパスフィルタ13により低周波の周波数成分のみが抽出される。このとき、ローパスフィルタ13の周波数帯域は高精度波形測定器5の周波数帯域と一致させている。例えば、高精度波形測定器5が直流から10MHzを測定対象とするのであれば、ローパスフィルタ13は、直流から500MHzのうち直流から10MHzの周波数帯域のみを抽出する。
【0037】
これにより、フィルタ通過後の広帯域波形データWDの周波数帯域と高精度波形データHDの周波数帯域とが一致する。演算部14は周波数帯域が一致した広帯域波形データWDと高精度波形データHDとを比較して演算を行う。図3b)の実線は高精度波形データHDであり、破線はフィルタ通過後の広帯域波形データWDである。
【0038】
広帯域波形測定器6は広範な周波数帯域を測定対象としているため、確度が低下する。つまり、所定の誤差を生じる。一方、高精度波形測定器5は狭帯域の周波数を測定対象としており、確度の高い測定を行っている。そこで、高精度波形データHDを基準として、広帯域波形データWDに生じている誤差量を演算する。
【0039】
ここでは、誤差量をゲイン誤差ΔGおよびオフセット誤差ΔAとして演算している。ただし、高精度波形データHDを基準としたときの広帯域波形データWDの誤差量を演算することができれば、ゲイン誤差ΔGおよびオフセット誤差ΔA以外のパラメータを用いて演算を行ってもよい。
【0040】
ゲイン誤差ΔGは高精度波形データHDの振幅GHと広帯域波形データWDの振幅GWとの比率を演算することにより得られる。つまり、ゲイン誤差ΔGは「ΔG=GW/GH」となる。このゲイン誤差ΔGは高精度波形測定器5に対する広帯域波形測定器6のゲインの誤差を示している。
【0041】
オフセット誤差ΔAは高精度波形データHDのオフセットAHと広帯域波形データWDのオフセットAWとの差分を演算することにより得られる。つまり、オフセット誤差ΔAは「ΔA=AW−AH」となる。このオフセット誤差ΔAは高精度波形データHDに対する広帯域波形データWDのオフセットの誤差を示している。なお、「オフセット」は所定の基準電圧に対する直流のオフセット成分のことをいう。
【0042】
以上のゲイン誤差ΔGおよびオフセット誤差ΔAが高精度波形データHDを基準としたときの広帯域波形データWDの誤差になる。この誤差を演算部14が演算する。演算したゲイン誤差ΔGおよびオフセット誤差ΔAは補正部15に出力される。補正部15は広帯域波形データ入力部12から広帯域波形データWD(ローパスフィルタ13を通過していないデータ)を入力しており、この広帯域波形データWDに対して補正を行う。
【0043】
補正部15は広帯域波形データWDに対してゲイン誤差ΔGの分だけゲインを補正し、オフセット誤差ΔAの分だけオフセットの補正を行う。これにより、確度の高い高精度波形データHDを基準としたときの誤差の分を広帯域波形データWDに対して補正することができる。補正後の広帯域波形データWDを波形合成部16に出力する。
【0044】
波形合成部16は高精度波形データ入力部11から高精度波形データHDを入力しており、且つ補正部15から補正後の広帯域波形データWDを入力している。そして、これらの高精度波形データHDと広帯域波形データWDとを合成して合成波形データCDとして波形表示部8に出力する。
【0045】
波形合成部16には予め変化量の閾値が設定されていることは既に述べたとおりである。なお、この閾値は適宜に設定することができる。波形合成部16は、広帯域波形データWDを時間と電圧値とに基づいて微分することにより、広帯域波形データWDの波形の変化量を検出することができる。このときに検出される変化量が閾値を超過しているか否かを検出する。
【0046】
つまり、設定された閾値を超過するような急激な変化が広帯域波形データWDに生じているか否かを検出する。微分したときに得られる変化量が閾値を超過しているときには急激な変化を生じているとして、広帯域波形データWDを採用する。一方、それ以外(変化量が閾値以下)であるときには、急激な変化を生じていないとして、高精度波形データHDを採用する。
【0047】
これにより、大きな変化を生じている部分については広帯域波形データWDを用いていることで高速に処理することができると共に、広帯域波形データWDは高確度に補正されているため、当該部分の確度を高くすることができる。一方、大きな変化を生じていない部分については高確度の高精度波形データHDを用いていることで確度の高い波形測定が可能になり、高速且つ正確な波形測定を行うことができる。
【0048】
以上に説明したように、確度および周波数帯域が異なる2つの波形測定器(高精度波形測定器5および広帯域波形測定器6)を用いて、確度の高い高精度波形データHDに基づいて広帯域の広帯域波形データWDを補正している。これにより、高確度且つ広帯域の波形を測定することができるようになる。
【0049】
以上において、波形合成部16により広帯域波形データWDと高精度波形データHDとの合成を行っているが、波形合成部16の処理を省略してもよい。つまり、補正部15によって、確度の高い高精度波形データHDを基準とした補正を広帯域波形データWDに対して行っており、広帯域波形データWDの確度を高めている。このため、波形合成部16による波形合成は行わなくてもよい。従って、この場合には、補正後の広帯域波形データWDを波形表示部8に表示するようにする。
【0050】
また、波形処理部7は独立した装置としているが、高精度波形測定器5または広帯域波形測定器6の何れかに備えるようにしてもよい。特に、広帯域波形測定器6にデジタルオシロスコープを適用した場合には、複雑な回路を有するデジタルオシロスコープに波形処理部7の機能を容易に持たせることができるようになる。勿論、波形処理部7をコンピュータ等の独立した装置構成として、波形の処理を行うようにしてもよい。
【0051】
また、フローティング電圧部3によりフローティング電圧を形成しているが、フローティング電圧部3は必須の構成要素ではない。また、高精度波形測定器5と広帯域波形測定器6との間に処理速度に差を生じるような場合には、処理速度の遅い方の測定器に早いほうの測定器を追従させるようにしてもよい。
【符号の説明】
【0052】
1 波形測定装置
2 測定対象
5 高精度波形測定器
6 広帯域波形測定器
7 波形処理部
8 波形表示部
11 高精度波形データ入力部
12 広帯域波形データ入力部
13 ローパスフィルタ
14 演算部
15 補正部
16 波形合成部

【特許請求の範囲】
【請求項1】
波形を測定する第1の波形測定器と、
この第1の波形測定器よりも確度が低く且つ広帯域の周波数の前記波形を測定する第2の波形測定器と、
前記第1の波形測定器が測定する第1の波形データを基準として前記第2の波形測定器が測定する第2の波形データの誤差を演算する演算部と、
前記誤差の分だけ前記第2の波形データを補正する補正部と、
を備えたことを特徴とする波形測定装置。
【請求項2】
前記演算部は、前記第1の波形データのゲインおよびオフセットに対する前記第2の波形データのゲインおよびオフセットに基づいて前記誤差を演算すること
を特徴とする請求項1記載の波形測定装置。
【請求項3】
前記第2の波形データのうち前記第1の波形測定器が測定する周波数帯域の成分のみを抽出する周波数フィルタを備え、
前記演算部は、前記周波数フィルタにより抽出された前記第2の波形データと前記第1の波形データとに基づいて前記誤差を演算すること
を特徴とする請求項2記載の波形測定装置。
【請求項4】
前記第2の波形データのうち予め設定された変化量よりも大きく波形が変化している部分は前記補正部により補正された前記第2の波形データを用い、それ以外の部分は前記第1の波形データを用いて合成する波形合成部を備えたこと
を特徴とする請求項3記載の波形測定装置。
【請求項5】
前記第1の波形測定器と前記第2の波形測定器とのうち何れか一方から他方に対して前記波形の測定の開始を示すトリガ信号を出力すること
を特徴とする請求項4記載の波形測定装置。

【図1】
image rotate

【図2】
image rotate

【図3】
image rotate


【公開番号】特開2012−242125(P2012−242125A)
【公開日】平成24年12月10日(2012.12.10)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−109568(P2011−109568)
【出願日】平成23年5月16日(2011.5.16)
【出願人】(000006507)横河電機株式会社 (4,443)
【出願人】(596157780)横河メータ&インスツルメンツ株式会社 (43)
【上記1名の代理人】
【識別番号】000006507
【氏名又は名称】横河電機株式会社