【課題】楕円球型の結合器を用い、任意形状のアンテナの放射効率を精度よく求める。
【解決手段】楕円をその２つの焦点Ｆ１、Ｆ２を通る軸を中心に回転して得られる楕円球状の閉空間１２の焦点Ｆ１の近傍に被測定アンテナ１を配置し、焦点Ｆ２の近傍に受信アンテナ１５を配置し、被測定アンテナ１に励振信号を供給し、受信アンテナ１５の出力信号を閉空間１２から出力させる。被測定アンテナ１と受信アンテナ１５の少なくとも一方を２つの焦点を通る軸に沿って互いの間隔が変化するように移動させながら、被測定アンテナ側から見た反射率と透過率の少なくとも一方および被測定アンテナの純抵抗分を測定し、その測定結果から反射最小を示す位置における被測定アンテナ１の純抵抗分Ｒｍと、反射最大を示す位置における被測定アンテナ１の純抵抗分Ｒｉとを求め、次の演算、η_ｒ＝１−（Ｒｉ／Ｒｍ）によって、被測定アンテナ１の放射効率η_ｒを算出する。 （もっと読む）

【課題】発光領域から位相調整領域へのキャリアのリークを抑制することが可能な半導体発光素子とそれを用いた波長可変レーザ光源を提供する。
【解決手段】半導体基板１１上に、一方の端面１０ａから他方の端面１０ｂに向かって活性層１３と導波路層１４とが連続して形成され、活性層１３側の領域に発光領域Ｉと光出力補償領域ＩＩとが他方の端面１０ｂに向かってこの順で形成され、導波路層１４側の領域に位相調整領域ＩＩＩが形成され、発光領域Ｉと光出力補償領域ＩＩと位相調整領域ＩＩＩとは電気的に絶縁されており、発光領域Ｉは、第１の電流Ｉ₁を受けて光を発し、位相調整領域ＩＩＩは、第３の電流Ｉ₃を受けて活性層１３から導波された光の位相を変化させ、光出力補償領域ＩＩは、その電位が位相調整領域ＩＩＩの電位と等しくなる第２の電流Ｉ₂を受け、発光領域Ｉからの光を増幅して導波路層１４へ導波する。 （もっと読む）

【課題】突き当てブロックにレンズホルダを溶接止めする際に、レンズホルダの回転による光軸ずれが生じないようにする。
【解決手段】ケース１内に固定された一対の突き当てブロック３５、３６の一方の端面にチップ支持台がその一端面を当接させた状態で固定され、さらに、端面を突き当てブロックの他方の端面３５ｂ、３６ｂに接した状態で、チップ支持台上の光半導体素子と保持したレンズとの結合効率が高くなるように位置決めされて溶接止めされたレンズホルダ３７とを有する光半導体素子モジュールにおいて、突き当てブロック３５、３６とレンズホルダ３７は、突き当てブロック３５、３６の端面３５ｂ、３６ｂとレンズホルダ３７の端面とが、位置決めの可動範囲内において、溶接止めされるポイントＰを挟む上下の位置で接する形状に形成されている。 （もっと読む）

【課題】装置内の遅延量の変動があっても測定対象の遅延量を正確に測定できる。
【解決手段】トリガ生成部２２は遅延測定起動用のトリガ信号ＴｇをＳＤＨフレーム先頭タイミングと同期させて生成する。送信データ処理部２３は、トリガ信号を受けてペイロード領域の所定位置にエラーが挿入されたＳＤＨフレームを生成して測定対象１に送信する。送信遅延量測定部２４は、トリガ信号生成時からＳＤＨフレームの先頭データが送出されるまでの時間を送信遅延量として測定する。受信遅延量測定部３４は、測定対象１から出力された特定のＳＤＨフレームが受信データ処理部３２に入力されてからエラー検出部３３に到達するまでの時間を受信遅延量として測定する。遅延量算出部４０は、トリガ信号生成時からエラー検出部３３でエラー検出されるまでの時間から、送信遅延量と受信遅延量の合計を差し引いて、測定対象１の遅延量を求める。 （もっと読む）

【課題】インデックス情報の作成を速やかに行え、フレームデータを格納してから実際に読み出して解析できる状態となるまでの待ち時間を短くする。
【解決手段】インデックス情報生成部３２は、高速ロジック回路によるハードウエア処理でシーケンシャルに実行するように設計されており、フレームデータがフレームデータメモリ１５に格納された段階で、スイッチ３１を第１入力端子３１ａ側に切り替えるとともにその第１入力端子３１ａに読出要求信号を与え、フレームデータメモリ１５に格納されているフレームデータを格納時とほぼ同等のビットレートで読み出させ、各フレームデータのインデックス情報を速やかに生成し、インデックス情報生成後にスイッチ３１を第２入力端子３１ｂ側に切り替える。解析処理部２０′はインデックス情報生成部３２によって得られたインデックス情報に基づいて解析対象のフレームデータの読出処理を行う。 （もっと読む）

【課題】本発明は、複雑な試験内容を簡単なシナリオで記述可能なプロトコル試験装置の提供を目的とする。
【解決手段】本発明に係るプロトコル試験装置は、ＩＰを用いてパケットを送受信するＩＰ機器１００のプロトコル試験装置９０であって、上位シナリオの実行を指示する上位シナリオ制御部４０と、上位シナリオ制御部の指示に従って、送受信部１０を介してＩＰ機器１００との間でパケットを送受信することで、下位シナリオを実行する下位シナリオ制御部３０と、を備え、上位シナリオは、プロトコル試験装置９０の擬似する特定端末の機種又はサービスに依存しない特定端末の振る舞いや合否判定が記述された命令群であり、下位シナリオは、予め定められたフォーマットに従って記述された命令群であって、特定端末の機種又はサービスに応じて定義されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】入力側と出力側両方の反射特性（特に通過帯域以降）がよく、小型化、低価格化に適し、広範囲の伝送レートにも対応できる構造を持ったベッセルフィルタを提供する。
【解決手段】入力端子１と出力端子２との間に直列接続されているシリーズ素子Ｌ１，Ｌ２に対して、抵抗Ｒ１，Ｒ２を各々並列接続する。さらに、入力端子１とシリーズ素子Ｌ１，Ｌ２の接続点と出力端子２の３箇所に一端が接続され、他端が接地されているシャント素子Ｃ１〜Ｃ３に対して、抵抗Ｒ３〜Ｒ５を各々直列接続する。 （もっと読む）

【目的】駆動電流の大きさにかかわらず，活性層温度をほぼ一定に保つことができるようにする。
【構成】半導体ゲインチップ11に駆動電流が供給されると，半導体ゲインチップ11の前方端面から光が出射する。半導体ゲインチップ11の後方端面および光ファイバ４中のＦＢＧ４ａによって光反射が繰返されてレーザ発振が生じる。さらに，半導体ゲインチップ11の後方端面から出射される光が当たる位置に，温度を測定するサーミスタ13が設けられている。半導体ゲインチップ11およびサーミスタ13はいずれもＴＥＣ15上に載置され，ＴＥＣ15はサーミスタ13の温度が所定温度に保たれるように制御される。半導体ゲインチップ11の後方端面から出射される光によってサーミスタ13が加熱されるので，半導体ゲインチップ11とサーミスタ13の温度の乖離幅が小さくなる。このため，サーミスタ13を所定温度に保つと，半導体ゲインチップ11の温度も所定温度に保たれる。 （もっと読む）

【課題】周波数、振幅及び時間の各次元で取得されたＡＰＤに基づいて、注視した次元の特定値を中心に、各種の次元のグラフを容易に切り替えて、観察できる技術を提供する。
【解決手段】ＡＰＤ部３００が出力する各周波数成分の振幅の振幅確率を時間経過に対応して記憶する記憶部４００に記憶しておき、グラフ生成部５１０は、記憶部から最新の記憶内容を得て、周波数、振幅、振幅確率及び時間のいずれか２つを次元とする座標に他の１つをパラメータとする第１のグラフを表示部に表示させ、指定マーカ生成部５２０は、表示されている第１のグラフ上の２つの次元又はパラメータのいずれかを特定値として指定する指定マーカを表示させ、画面制御部は、特定値を指定された前記２つの次元又はパラメータを該特定値に固定したときの、新たな組合せの次元及びパラメータについての第２のグラフをグラフ生成部に生成させて、表示させる構成とした。 （もっと読む）

【課題】単一的な手段による、かつ連続的に一連のマーカ操作の中で粗調整、微調整を切り替え可能にして、波形マーカの位置（移動）調整がスムースに行う。
【解決手段】指標生成部２３ｂは、表示部１１の測定波形を表示している波形表示領域に、マーカ操作による操作量に対応する波形マーカの移動変化量をその大小の順に複数段階に規定する指標を設け、操作者によるマーカ操作により指標の中の何れかの特定段階が指定されたことを検知し、その指定の後に連続的に、表示されている波形マーカを移動させるマーカ操作がされたときの操作量を検知して、特定段階の指標で規定される移動変化量で前記波形マーカを移動させる構成とした。 （もっと読む）