【課題】 リモート制御される機器の構成が簡単で負荷の動作に対するリモート制御が容易な端末機器とその制御方法を提供する。
【解決手段】 バイアス印加通信回路１２は、バイアス印加信号１０１が入力されると、ツイストペア線６にコモンバイアス電圧を印加する。バイアス検出回路１６は、コモンバイアス電圧を検出すると、バイアス検出信号１０４を負荷回路１５に入力する。負荷回路１５は、負荷に対する電源切換えを実行する。端末機器２は、電源切換えを実行すると、バイアス印加信号１０３をバイアス生成回路１７に入力する。バイアス生成回路１７は、ツイストペア線７にコモンバイアス電圧を印加する。バイアス検出回路１４は、コモンバイアス電圧を検出すると、バイアス検出信号１０２を発生する。ノード１は、バイアス検出信号１０２によりリモート制御が実行されたと認識する。 （もっと読む）

【課題】 汎用の光学系で構成され、測定空間周波数が測定状況に応じて任意に設定でき、非接触で高精度の測定が行える速度測定装置を実現すること。
【解決手段】 測定対象に対して光を照射する照射手段と、照射された測定対象の画像を結像させる光学系と、光学系で結像された画像を検出する複数の受光素子よりなる画像センサ部と、各受光素子から出力される画像検出信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、変換されたデジタル信号に基づき所望の空間周波数成分の動きを演算するデジタル演算手段、とで構成されたことを特徴とするもの。 （もっと読む）

【課題】 現場（室内）においてもセンサの値や機器の動作状況を把握でき、かつ、設定値の変更が可能な表示装置を有する複数室環境管理システムを実現する。
【解決手段】 ｎ室の環境を管理するｎ台の地域制御手段と、このｎ台の地域制御手段を統括する主制御手段を有する複数室環境管理システムにおいて、前記主制御手段及び又は地域制御手段の少なくとも一つに前記ｎ室の少なくとも一つの環境の状態を表示すると共に設定値の変更機能を有する表示手段を設けた。 （もっと読む）

【課題】 省電力化が可能であると共に高速サンプリングが可能な絶縁手段を備えたΣΔＡＤ変換器及びこれを用いた流量流速測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 入力端子と加算器と積分器とコンパレータとフリップフロップを直列に接続し、前記フリップフロップの出力信号を出力端子に接続すると共に、その出力信号をＤ／Ａ変換器を介して前記加算器に帰還して、入力信号に対応するパルス密度信号を出力するΣΔＡＤ変換器において、微分信号を絶縁伝送する絶縁回路と、前記コンパレータの出力信号と前記Ｄ／Ａ変換器の入力信号の極性の不一致を検出して再起動用信号を出力する第１の起動回路と、前記フリップフロップの出力が一定時間変化しないことを検出して再起動用信号を出力する第２の起動回路を備えた。 （もっと読む）

【課題】 元圧変動の影響を受けないで部品吸着の有無を検出することができるように改良された電子式圧力スイッチ及びこれを用いた真空部品吸着装置を提供するにある。
【解決手段】 元圧の供給を受けて部品吸着の有無による圧力変化の情報に基づいて部品の吸着を検出する電子式圧力スイッチにおいて、先の元圧を元圧信号として出力する元圧センサと、先の圧力変化を圧力信号として出力する圧力センサと、先の元圧信号と先の圧力信号との差を演算して差信号を出力する差動演算手段と、第１基準電圧とこの差信号とを比較して第１比較信号を出力する第１比較手段と、第２基準電圧と先の元圧信号とを比較して第２比較信号を出力する第２比較手段と、先の第１比較信号と先の第２比較信号とが入力されこれ等の論理和を演算する論理和演算手段と、この論理和演算手段の出力により駆動されるオン／オフ信号を出力する出力手段とを具備するようにしたものである。 （もっと読む）

【課題】 発生する階調電圧の高精度電圧検査及び機能検査を行うことが可能なＩＣ試験装置を実現する。
【解決手段】 被試験対象からの被検査電圧の高精度電圧検査及び機能検査を行うＩＣ試験装置において、上限値電圧，下限値電圧若しくは期待値が記憶された共有記憶回路と、機能検査電圧が設定されるレジスタ回路と、共有記憶回路若しくはレジスタ回路の出力に基づき上限値電圧，下限値電圧若しくは機能検査電圧を発生させるＤ／Ａ変換器と、被検査電圧と上限値電圧，下限値電圧若しくは機能検査電圧とを比較する比較器と、この比較器の出力と期待値を比較するディジタル・コンパレータと、比較器若しくはディジタル・コンパレータの出力が記憶される記憶回路と、共有記憶回路及びレジスタ回路の出力の切り換えと記憶回路への入力の切り換えを行う検査切換手段とを設ける。 （もっと読む）

【課題】 多チャンネルで多階調電圧を発生するＩＣを高速試験することが可能なＩＣ試験装置を実現する。
【解決手段】 被試験対象からの被検査電圧を上限値電圧及び下限値電圧と比較して被試験対象の良否を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象からの複数の被検査電圧を同一時刻に一括してサンプリングする複数のサンプル・ホールド回路と、この複数のサンプル・ホールド回路の出力を順次選択して出力するマルチプレクサ回路と、このマルチプレクサ回路から順次出力される被検査電圧に対応する上限値電圧及び下限値電圧に基づき被検査電圧の良否を検査する検査回路とを設ける。 （もっと読む）