【課題】デバイスのテスト効率の向上を図ることができるハンドラを提供すること。
【解決手段】テスト対象となるデバイスを自重落下させるシュートと、このシュートに形成されたデバイス取出部から自重落下してきたデバイスを取り出して保持するデバイス保持手段と、このデバイス保持手段にて保持されたデバイスの電気的特性テストを行うテスト手段と、デバイス保持手段から排出されるテスト後のデバイスを受け付ける排出デバイス受付手段と、デバイス保持手段を装備し当該デバイス保持手段にてデバイス取出部から取り出され保持されたデバイスをテスト手段及び排出デバイス受付手段に搬送するよう可動する搬送手段と、を備え、搬送手段は、複数のデバイス保持手段を、少なくともデバイス取出部とテスト手段と排出デバイス受付手段とにそれぞれ対応して位置するよう同一円周上に装備し、回転可動する。 （もっと読む）