【課題】禁制帯幅の異なる半導体材料で出来たセルを積層して直列接続した構造になっている多接合型太陽電池のセル毎に部分的問題点を見つけられるような測定法と測定装置を提供すること。
【解決手段】評価対象のセルが分担している波長の光だけを小さく絞って照射し、その強度を変調する。直列に繋がるその他のセルにはそれぞれのセルの分担波長帯の光を連続照射する。この時の電気出力の中の上記変調に対応した出力変化を解析することで、評価対象のセルの特性を測定する。複数のセルについて、それに対応した波長域の光源を順次照射することで、全てのセルの特性を測定する。 （もっと読む）