説明

株式会社ティーワイテクノにより出願された特許

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【課題】微小物体の外観検査装置において、微小物体の多様な仕様に対応しつつ、外観の広い領域に亘って高精度な検査を行う。
【解決手段】微小物体50の外観検査装置100は、表面に吸着部22を有し、被検査体を回転搬送する第1ドラム7と、被検査体及び中央部を通る線上の、被検査体及び中央部間の一の領域に配置された撮影手段31と、当該線上の他の領域に配置された撮影手段32と、側面に吸着部23を有し、被検査体を回転搬送する第2ドラム9と、第2ドラムの表側及び裏側にそれぞれ配置された撮影手段33、34と、側面に吸着部24を有し、被検査体を回転搬送する第3ドラム11と、第3ドラムの表側及び裏側にそれぞれに配置された撮影手段35、36と、これら撮影手段によって撮影された画像情報から不具合の有無を判定する判定手段とを備える。 (もっと読む)


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