質量分析のためにイオン源から質量分析計まで運ばれるイオンには、多くの場合、イオン源から生じる、光子、中性粒子およびクラスタまたはエアロゾルイオンなどのバックグラウンド粒子が伴う。バックグラウンド粒子は、質量分析計検出器までの見通し線の存在する圧力のより高い領域における、バックグラウンド気体分子との衝突中の散乱およびイオンの中性化によっても生じる。いずれの場合にも、そのようなバックグラウンド粒子は、質量スペクトルにノイズを発生させる。複数の真空ステージを通じて効率的にイオンを運ぶように多重極イオンガイドが構成されるとともに、イオン源において、またイオン輸送の経路に沿って生じるバックグラウンド粒子が検出器へ到達することを妨げることによって質量スペクトルにおける信号対雑音を改良する、装置および方法を提供する。
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