説明

フェニテックセミコンダクター株式会社により出願された特許

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【課題】部品点数の削減及び実装面積を小さくすることができる半導体装置及び半導体集積装置を提供する。
【解決手段】トランジスタQ1に形成されたコレクタ電極は、リードフレームによりコレクタ端子Tcに直接接続してあり、エミッタ電極は、ボンディングワイヤによりエミッタ端子Teに直接接続してある。また、トランジスタQ1のベース電極には、抵抗素子R1を介して接続された第1ベース端子Tb1と、ベース電極に直接接続した第2ベース端子Tb2とを備えている。また、トランジスタQ1のベース電極とエミッタ電極との間には抵抗素子R2を接続してある。トランジスタ装置10は、外部との接続用の端子を4つ備える4端子構造を有する。 (もっと読む)


【課題】ワイヤが倒れるなどの製品不良を防止した半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】リードフレーム2の裏面上にレジスト層7を形成する。次に、リードフレーム2の表面に半導体チップ3を搭載してワイヤ4によって半導体チップ3及びリードフレーム2を電気的に接続する。その後、レジスト層7の裏面が露出され、かつ、レジスト層の側面が覆われるように、封止部材6を形成する。そして、レジスト層7を取り除いた後に、リードフレーム2の裏面にメッキ層5を形成する。 (もっと読む)


【課題】発光ダイオードの実装数を増大させ、外部に効率良く光を取り出すことができる照明装置及び照明装置用駆動回路を提供する。
【解決手段】照明装置1は、発光ダイオードマトリクス4と、発光ダイオードマトリクス4を載置する基板6と、基板6上に設けられる光反射体7と、を備え、光反射体7は、発光ダイオード30毎に発光した光を反射する側壁部9を有する。光反射体7には、発光ダイオードマトリクス4毎に発光ダイオードマトリクス4を収容する貫通孔8が形成してもよく、側壁部9の表面を、光反射材料により被覆する。貫通孔8を、発光ダイオードマトリクス4の発光方向に拡開した錐体形状の側壁部9で形成してもよい。照明装置用駆動回路は単一の直流電源で駆動することができる。上記構成によれば、発光ダイオード30の実装密度を高め、発光輝度を高くし、かつ、熱放散性の良好な照明装置1が得られる。 (もっと読む)


【課題】、ワイヤのダメージを防いだ半導体装置及び絶縁層生成方法を提供する。
【解決手段】リードフレーム1には、外部接続用のリード11Bが設けられている。半導体チップ2は、その表面21に電極22Bが設けられる。半導体チップ2は、その裏面23とリードフレーム1の表面13とが対向するように、リードフレーム1上に搭載される。ワイヤ3Bは、半導体チップ2の電極22Bとリードフレーム1の表面13とにワイヤボンダされ半導体チップ2とリードフレーム1とを電気的に接続する。絶縁層8は、半導体チップ2の裏面23とリードフレーム1との間に設けられている。絶縁層8は、その厚さDが10μm以内となるように設けられている。 (もっと読む)


【課題】トレンチ構造のトランジスタの形状及び電極構造に関して自由に設計を行なうことができる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板10の表面には複数の凹部10a,10a,…が設けられ、各凹部10aには、表面からエミッタ領域REとベース領域RBとがこの順序で配置されている。その他の領域がコレクタ領域RCとなってトランジスタを構成する。基板全面に電極としての導電体を設ける場合、凹部10aによる段差のため、ベース領域RB上のベース電極12Bとエミッタ領域RE上のエミッタ電極12Eとは分離された状態で形成される。そして、エミッタ電極12E及びベース電極12Bを被覆する層間絶縁膜13を形成し、層間絶縁膜13を介してエミッタ電極12E及びベース電極12Bとそれぞれコンタクトを取るためのボンディングパッド14E及び14Bをデバイスの上層に形成する。 (もっと読む)


【課題】基板の表面をトレンチ構造にしてエミッタ領域及びエミッタ電極を設け、デバイスサイズを小型化、高集積化することができる半導体装置及び該半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板10は、N型不純物としてのアンチモンが含有され、コレクタ領域RCを形成している。シリコン基板10の表面には、複数の凹部10a、10a、…を形成している。各凹部10aの略階段状の表面には、エミッタ領域REを形成してあり、エミッタ領域REの下側及び各凹部10aを除くシリコン基板10の表面には、ベース領域RBを形成してある。エミッタ領域REにはN型不純物としてのリンが、ベース領域RBにはP型不純物としてのボロンが含有されている。 (もっと読む)


【課題】基板の表面をトレンチ構造にしてベース領域及びベース電極を設け、デバイスサイズを小型化、高集積化することができる半導体装置及び該半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板10は、N型不純物として、例えば、アンチモンが含有され、コレクタ領域RCを形成している。シリコン基板10の表面には、複数の凹部10a、10a、…を形成してある。各凹部10aを除くシリコン基板10の表面の一部には、エミッタ領域REが各凹部10aで離隔されるように形成してあり、コレクタ領域RCの上側であって、各凹部10aの底面及び側面、並びにエミッタ領域REの下側には、ベース領域RBを形成してある。エミッタ領域REにはN型不純物としてのリンが、ベース領域RBにはP型不純物としてのボロンが含有されている。 (もっと読む)


【課題】トレンチ構造のトランジスタの電極を確実に分離することができる半導体装置及び該半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】各凹部10aの側面及び各凹部10a周辺のシリコン基板10上面には、シリコン酸化膜11が形成してあり、さらに、シリコン酸化膜11の上面には、シリコン窒化膜13が形成されている。シリコン窒化膜13の縁辺は、シリコン酸化膜11の縁辺より突出させてオーバハング形状(庇状)にしてある。また、各凹部10aの開口部周りのシリコン酸化膜11は、等方性エッチングによってオーバハング形状にしてある。すなわち、各凹部10aの開口部周りは、シリコン窒化膜13によるオーバハングとシリコン酸化膜11によるオーバハングが形成されている。 (もっと読む)


【課題】基板の表面をトレンチ構造にしてエミッタ領域及びエミッタ電極を設け、デバイスサイズを小型化、高集積化することができる半導体装置及び該半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板10は、N型不純物(例えばアンチモンSb)が含有され、コレクタ領域RCを形成している。シリコン基板10の表面には、複数の凹部10a、10a、…を形成している。各凹部10aの底面及び側面には、エミッタ領域REを形成してあり、エミッタ領域REの下側及び各凹部10aを除くシリコン基板10の表面には、ベース領域RBを形成してある。エミッタ領域REにはN型不純物としてのリンが、ベース領域RBにはP型不純物としてのボロンが含有されている。 (もっと読む)


【課題】サージ吸収速度及びサージ耐量を向上させたサージ吸収用半導体素子及びサージ吸収用半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】N型サブストレート21にP型の主接合32が形成されており、サージ電流を吸収するサージ吸収用半導体素子の製造方法において、N型サブストレート21にP型の主接合32を形成した後、N型サブストレート21のP型の主接合32周辺に金又は白金などの重金属を、750℃以上1200℃以下の温度で拡散する。 (もっと読む)


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