京都パステック株式会社により出願された特許
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ポストゲノム用質量分析装置の感度アップおよび小型化のための最適設計(直角スプレーイオン化方式)
【課題】感度の高い、小型の汚染がない直角スプレー方式イオン化方式質量分析装置を提供する。
【解決手段】スプレー方式をアングル方式ではなく、直角にして真空度が低く小型のイオン化部により高感度の質量分析をする。
(イ)スプレー式 試料噴霧方向は試料吸引方向に対して90度の角度を設ける。
(ロ)その後、流速を吸引部からオリフィス部まで1500m/sから300m/sにダウンさせるために4.0mmDから10.0mmDのサイズとする。
(ハ)その後、オリフィス部の流速を100m/sにするために20mmDのサイズとする。
以上の構成よりなる直角スプレーイオン化方法である。
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