【課題】温度依存特性を計測する際に、電子部品の温度を高精度に制御する。
【解決手段】電子部品の温度特性を計測する温度特性計測装置１であって、電子部品搭載プレート１０に電子部品を搭載し、この電子部品搭載プレート１０を、熱伝達プレート２０の載置面に配置する。温度制御素子３０は、熱伝達プレート２０に温熱又は冷熱を供給する。電子部品搭載プレート１０には、その温度を直接計測する部品側温度計測装置１５が設置され、この部品側温度計測装置１５の計測結果に基づいて、温度制御ユニットが温度制御素子３０を制御するようにした。 （もっと読む）

【課題】電子部品パッケージの安定保持と確実な溶接作業を両立させることが可能な電子部品パッケージ溶接装置等を提供する。
【解決手段】凹部５２に電子部品パッケージＤが収容される電子部品保持プレート５０の貫通孔５４に、昇降アーム７４を相対移動自在に挿入し、移動機構７６によって、この昇降アーム７４を上昇させる又は電子部品保持プレート５０を下降させることにより、電子部品パッケージＤを凹部５２の開口側５２Ａに相対的に押し上げる。この押し上げた状態において、溶接機構によって電子部品パッケージＤを溶接するようにした。 （もっと読む）

【課題】電子部品パッケージを高精度に製造可能にし、電子部品の小型化に対応する。
【解決手段】電子部品パッケージ本体５０に形成されるメタライズ領域に対しろう材５２を配置し、このろう材５２の上にリッド固定リング５４を配置する。更に、リッド固定リング５４の一部をスポット加熱して、ろう材５２を部分的に溶融させ、このリッド固定リング５４をメタライズ領域に仮固定する。その後、電子部品パッケージ本体を加熱してろう材５２の全体的に溶融させ、リッド固定リング５４をメタライズ領域に固定させるようにした。 （もっと読む）

【課題】シーム溶接時における溶接不良を高精度で検出する。
【解決手段】シーム溶接時の電流値を溶接パルス単位で検出するパルス検出ステップと、複数の溶接パルス単位又は複数の溶接パルス群を対象に独立設定される閾値に対して、パルス検出ステップで検出された溶接パルスの電流値を比較し、シーム溶接の溶接異常を判定する異常判定ステップと、を備えるようにした。 （もっと読む）

【課題】溶接ローラの交換を容易にして、シーム溶接装置の稼働効率を高める。
【解決手段】シーム溶接ローラユニット３０として、シーム溶接に用いられる溶接ローラ３２と、この溶接ローラ３２を回転自在に保持するハウジング３６を備えるようにし、このハウジング３６の外周には、溶接ローラ３２と同軸となる円柱形状領域４２、及び軸方向の位置決めを行う位置決め用段部４６が形成されるようにする。ハウジング３６がシーム溶接装置の本体に着脱自在に保持される際、この円柱形状領域４２及び位置決め用段部４６をシーム溶接装置の本体に当接させることで、溶接ローラ３２が位置決めされるようにした。 （もっと読む）

【課題】電子部品の検査作業を高精度且つ簡易化する電子部品検査装置を提供する。
【解決手段】電子部品検査装置１は、電子部品を容器１０に収容して、容器を密閉することで電子部品を外界から閉ざし、熱伝導手段５０によって電子部品を検査温度にして電子部品の温度特性を検査する。熱伝導手段５０は、容器１０に設けられた開口を閉塞するように設置されて電子部品に熱伝導する熱伝導プレート５１と、熱伝導プレート５１の背面に密着して設けられて温熱又は冷熱を付与する熱移動素子５２と、熱移動素子５２の背面の面に密着するヒートシンク５３とを具備するようにした。 （もっと読む）

【課題】電子部品を圧力容器内に収容し、所定圧力且つ所定温度に保持した状態の出力を、極めて短時間に検査できる電子部品検査装置を提供する。
【解決手段】電子部品Ａを圧力容器に収容して密閉し、電子部品の出力端子の出力を検査する。圧力容器は、上側可動容器１１と、この上側可動容器１１の下側に固設される下側容器１２とからなる。上側可動容器１１は、容器昇降手段によって下側容器１２に密着した位置から上昇するようになっている。更に、上側可動容器１１が下側容器１２に載置された状態で、上側可動容器１１を加圧してその下端開口の密閉を確保する加圧手段を備える。 （もっと読む）

【課題】電子部品の検査作業を高精度且つ簡易化する電子部品検査用容器を提供する。
【解決手段】互いに当接して密閉容器となる上側容器１１及び下側容器１２において、この上側容器１１又は下側容器１２の一方に設けられる複数のソケット取付用孔に対して、導電ソケット７２を絶縁を確保して嵌合させる。この導電ソケット７１において非貫通に形成される有底のプローブ取付用孔に対しては、プローブ７３を交換可能に嵌合させる。導電ソケット７２は、更にプローブ取付用孔の底側より容器外に延びるデータ取り出し線を備えている。この結果、上側容器１１と下側容器１２を重ね合わせたときに、密閉容器内の収容される電子部品Ａの検査端子に、プローブ７３が接触するように構成される。 （もっと読む）

【課題】電子部品の温度を低温、常温あるいは高温に維持した状態で、電子部品の姿勢を変えて傾斜角度に対する電気的特性を効率的に測ることを可能にする。
【解決手段】調整検査装置によって、電子部品Ａの姿勢を所定角度に傾斜した状態で該電子部品の特性を調整検査する際に、電子部品Ａの姿勢を垂直方向に回転する角度制御ユニットにて傾斜させ、角度制御ユニットには該角度制御ユニットとともに回転する温度調節ユニットが配されるようにする。更に、温度調節ユニットの表面が電子部品Ａと直接的または該電子部品を搬送するキャリアを介して間接的に接触し、電子部品の温度を所定温度に維持する構造とする。 （もっと読む）