スペクトル解析に適合されたアレンジメント（”Ａ”）が、電磁放射（”Ｓ”）に適合された伝達手段（１０）と、測定セルになって光学測定距離（”Ｔ”）を定義するキャビティの形の区切られた空間（１１）と、前記伝達手段（１０）から光学測定距離（”Ｌ”）を通過する前記電磁放射（”Ｓ”，”Ｓａ１”，”Ｓａ２”）の感知手段（１２）と、少なくとも前記感知手段（１２）と接続されたスペクトル解析実行ユニット（１３）とを有している。電磁放射の前記感知手段（１２）が、スペクトルレンジ内に入る電磁放射（”Ｓｂ”，４ａ）に光電的に感受適合されている。当該スペクトルレンジの選択波長成分またはスペクトル要素が、スペクトル解析実行ユニット（１３）において解析対象となる。当該スペクトル解析実行ユニット（１３）が、このユニットにおいて、計算を通して、スペクトル要素の相対放射強度を測定する。前記電磁放射（”Ｓ”，”ＳａＴ１”Ｓａ２”）が、サンプル（Ｇ）のガスが存在する空間を通過するように適合されている。空間（１１）内の前記光学測定距離（”Ｌ”）が、少なくとも１５ｍｍよりも短く、非常に短く選択されている。このため、サンプル（Ｇ）のガスが評価されるガス部分に関して高濃度を示す。 （もっと読む）

スペクトル分析に適合する配置Aは、光投射手段１０、２aと、測定セルとして使い光学測定距離Lを規定する空洞状の限定空間１１と、前記光投射手段１０から前記光学距離Lを通る電磁波４を検出する光検出手段１２と、少なくとも前記光検出手段１２に接続しスペクトル分析を行うユニット１３とを備える。光投射手段からの電磁波のビームは異なった入射角で光学帯域フィルタを通過するようにされる。フィルタは入射角に依存して波長を透過させるような構造にされる。第１の選択波長成分は第２の選択波長成分から分離され、それぞれは光電手段３ｂ、３b’で受光される。前記ユニットはこのような各波長成分の発生電磁波強度を検出し計算するように構成される。 （もっと読む）

本発明はガスＧの存在を確立し、および／またはガスの濃度を決定するよう適合され、ガス・センサに含まれたガス・セルに関する。光反射特性のある壁部分で制限され、前記ガスの容量（Ｇ）を閉じ込めるようにされ、さらに光線束３ａ’をキャビティ関連および対向する壁部分の間で反射する方向に放射するよう適合された光源３を含むキャビティ２’でガス・セルは構成される。光線束３ａ”は凹壁鏡面２ｂ’で反射し、ガス試料（Ｇ）に対応する吸収波長を検出する機能のある１つ以上の受光器４，５に向かうよう適合された光線で構成される。凹曲壁鏡面２ｂ’で、光源３から斜めに受光した発散光線束３ａ’を、表面構造がリトロー配置にされた平面格子に割り当てたキャビティ関連の壁面２ｇ’の方向に反射させる。光線束３ａ”は格子のブレーズ角付近の角度で平面壁面２ｇ’に当たり、それで、選択されたガス試料（Ｇ）に対応し光線束３ａ”に存在する吸収波長を前記平面壁面２ｇ”でストレートに反対方向に回折反射させ、さらに前記曲鏡面２ｂ’で再度反射させて、前記受光器４，５のそれぞれの方向に向ける。
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本発明は試料ガス「Ｇ」を入れたチャンバ２０と、光出射手段３と、チャンバを通って反射した光を受光する手段４と、演算を行う電子回路５とで構成されたガス分析装置１で構成され、前記チャンバ２０内に試料ガス「Ｇ」として存在する選択したガスあるいは混合ガスの存在をスペクトル分析によって分析決定するように構成される。前記チャンバには前記チャンバに出入りする試料ガスの通路として１つまたは数個の開口が設けられる。前記チャンバ２０は多少湾曲した形状にされ、前記光出射手段３と前記光受光手段４の間に少なくとも１つの光反射面３０ｂが凹状に湾曲して設けられる。前記開口３０は前記光出射手段３と前記光受光手段４の間の狭い連続する領域に配置され、前記開口３０はチャンバ２０内の試料ガス「Ｇ」が別のガスと速い速度で交換できる寸法と縦方向範囲になっている。
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本発明はセンサ１を使用する測定方法に関する測定値に対して、特に「ドリフト」誤差に関する温度依存誤差補償を行う方法および電子配置６に関する。電子回路６は１つ以上のガスおよび／またはガス混合物の存在の確立および／またはガスまたはガス混合物の濃度の演算に適合する。選択した測定サイクルＴ１の間に発生し確立した最高測定値Ｍｍａｘまたは最低測定値Ｍｍｉｎはメモリー６９’に格納する。選択した期間Ｔ１の間に発生し評価した最低アナログ値または最高デジタル測定値を前記メモリー６９’に格納し、選択した測定サイクルまたは期間Ｔ１の最後に発生し評価した測定値Ｍｍａｘ、Ｍｍｉｎと、格納したアナログまたはＡ／Ｄ変換器を介したデジタルの制御値６５’を比較し、評価した最低または最高測定値と前記格納した制御値の差を、次の期間Ｔ２に発生する測定値の関係および／または対応する測定値の補償Ｋ１の基礎として使用することを提案する。 （もっと読む）