地下、容器内、壁、隔壁等の背後に隠された物体をリアルタイムで安全に検出する凝視コンプトン後方散乱Ｘ線用の、独特なロブスターアイ（ＬＥ）構造、Ｘ線発生器、シンチレータベースの検出器、および冷却ＣＣＤ（すなわち増感ＣＣＤ）に基づいたロブスターアイＸ線画像処理システム。既存の走査型ペンシルビームシステムとは対照的に、ロブスターアイＸ線画像処理システムの真の焦点が調整されたＸ線光学系は、１つまたは２以上のＸ線発生器からの広いオープンコーンビームによって照射されたシーン全体から、弾道コンプトン後方散乱光子（ＣＢＰ）を同時に得る。ロブスターアイＸ線画像処理システムは、４０から１２０ｋｅＶの範囲（すなわち波長λ＝０．３１から０．１オングストローム）において、現在の後方散乱画像処理センサ（ＢＩＳ）よりも何千倍も多い後方散乱硬Ｘ線を収集する（焦点に集める）ので、高感度で高信号対雑音比（ＳＮＲ）であり、地面、金属、壁等を貫通する能力を提供する。ロブスターアイＸ線画像処理システムの収集効率を最適化して、放射されるＸ線パワーを低減し、装置を小型化する。該装置は、Ｘ線ベースの検査システムに特に好都合であり、該Ｘ線ベースの検査システムの要件、すなわち、地面、金属、および他の隠蔽材料を通したＸ線の貫通、安全性、および人による可搬性の要件を満たしている。ここに開示された先進技術は、医療診断や、地雷探知、手荷物検査等のような軍事的応用にも適用可能である。 （もっと読む）