【課題】本発明は、電子部品供給部と整列機との間に無振動区間を形成し、電子製品が無振動状態で整列機に移送され得るようにする電子製品整列装置及び電子部品検査システムを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の電子部品検査システムは、電子部品を供給する電子部品供給部、電子部品を無振動状態で移送して整列する電子部品整列部、電子部品が配置されるガラス円板、トリガー信号とエンコーダ値を生成する電子部品位置検出部、電子部品の４面を撮影する電子部品撮影部、圧縮空気を噴射して電子部品を排出する電子部品排出部及びトリガー信号とエンコーダ値及び撮影映像を用いて、電子部品の良否判定を行った後、判定された結果に基づいて、電子部品排出部を制御する制御部を含む。本発明によれば、電子部品の安定的な整列、選別性能の向上、電子部品の排出反応速度の向上という効果がある。 （もっと読む）

【課題】 ディスプレーベアガラス検査装置および方法を提供すること。
【解決手段】 本発明は、大形ベアガラスに形成されて欠陥を高速で検査することができるディスプレーベアガラスの欠陥検査装置および方法に関するものである。本発明のディスプレーベアガラスの欠陥検査装置は、スキャン領域を有し、ベアガラスが置かれるステージと、前記ベアガラスを前記ステージ上で前後移動させる移動部材と、前記ステージの前記スキャン領域に光を照射して前記ベアガラスを撮像する撮影部とを含む。前記撮影部は前記ベアガラスの表面をライン単位で撮影する少なくとも一つのカメラと、前記少なくとも一つのカメラで前記ベアガラスの多様な欠陥パターンが撮影されるように、前記ベアガラスに光を照射し、互いに異なる照射角を有する第１光源と第２光源とを有する照明部を含む。 （もっと読む）