説明

モクストロニクス,インコーポレイテッドにより出願された特許

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【課題】 発光素子の機能および効率を向上させ、高効率および高電力で動作する特定の能力を有する層状ヘテロ構造を提供する。
【解決手段】 層状ヘテロ構造発光素子は、少なくとも、基板、n型窒化ガリウム系半導体クラッド層領域、p型窒化ガリウム系半導体クラッド層領域、p型酸化亜鉛系正孔注入層領域、およびオーミック接触層領域を含む。あるいは、素子はキャッピング層領域も含んでよく、または反射層領域および保護キャッピング層領域を含んでもよい。素子はオーミック接触層領域に隣接する1つ以上の埋め込み挿入層を含んでもよい。オーミック接触層領域は、酸化インジウムスズ、酸化ガリウムスズ、または酸化インジウムスズ材料といった材料からなり得る。n型窒ガリウム系クラッド層領域と電気的に接触するn型電極パッドが形成される。p型領域と電気的に接触するp型パッドが形成される。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】積層ヘテロ構造電界効果トランジスタ(HFET)は、基板と、基板上に成長する第1の酸化物半導体層と、第1の半導体層上に成長し、第1の半導体層とエネルギー・バンドギャップが異なる第2の酸化物半導体層と、を備え、また、前記第2の層は、ゲート領域と、ドレイン領域と、ソース領域と、を有し、ゲート領域、ドレイン領域、及びソース領域に対しては、HFETを形成するのに十分な電気的接触がもたらされる。基板は、単結晶材料を含む材料とすることができ、また、第1の半導体層がその上に成長するバッファ層材料を含有することができる。第1及び第2の半導体層の導電型ならびに各酸化物半導体層の組成は、HFETの所望の動作性能特性が改善されるように選択することができる。この積層構造は、半導体HFETデバイスの機能ならびに高周波及び高電力性能の改善に応用することができる。 (もっと読む)


【課題】
半導体デバイスの機能、能力および性能を向上させること。
【解決手段】
半導体デバイスの性能を向上させる材料および構造には、ZnBeO合金材料、ZnCdOSe合金材料、格子整合のためにMgを含有し得るZnBeO合金材料、および、BeO材料が挙げられる。ZnBeO合金系、すなわち、Zn1−xBe0におけるBeの原子分率xは、ZnOのエネルギーバンドギャップが、ZnOのエネルギーバンドギャップよりも大きな値になるまで増加するよう変化させることができる。ZnCdOSe合金系、すなわち、Zn1−YCdOi−zSeにおけるCdの原子分率yとSeの原子分率zは、ZnOのエネルギーバンドギャップが、ZnOのエネルギーバンドギャップよりも小さい値になるまで減少するよう変動させることができる。形成された各合金は、選択されたドーパント元素を用いることによって、アンドープ、または、p型ドープ、またはn型ドープされることができる。これらの合金は、単独または組み合わせて用いられて、一定の波長値の範囲にわたって放射可能な活性フォトニック層、単一および多重量子井戸のようなヘテロ構造、並びに超格子層またはクラッド層を形成し、光半導体デバイスや電子半導体デバイスを製造することができる。このような構造は、半導体デバイスの機能、能力および性能を向上させるために利用できる。 (もっと読む)


【課題】半導体FETデバイスの機能及び高周波性能を改善するために用いることができる、ゲート電圧バイアス供給回路素子を備えたエピタキシャル積層構造を提供する。
【解決手段】半導体電界効果トランジスタ(FET)デバイスの性能を改善するためのゲート電圧バイアス供給回路素子を備えたエピタキシャル積層構造は、基板と、該基板上にエピタキシャルに成長したn型またはp型の第1の層の半導体膜であって、基板と第1の層膜との間にバッファ層が存在する可能性がある第1の層の半導体膜と、第1の半導体層上にエピタキシャルに成長した活性半導体層であって、活性層の導電型が第1の半導体層の導電型と反対であり、またFETを形成するのに十分なゲート、ドレイン、ソースへの電気コンタクトを備えたゲート領域及びドレイン領域及びソース領域を有する活性半導体層と、基板または第1の半導体層上の電気コンタクトと、デバイス性能を向上させるのに十分な電圧極性及び大きさで、ゲートコンタクト及び基板または第1の半導体層に電気的に接続されたゲート電圧バイアス供給回路素子と、からなる構造を利用する。
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