半導体回路の未使用状態を検知する未使用状態検知回路が開示されている。半導体回路は、未使用状態検知回路が永久的に抹消されていない場合は「未使用」である。半導体回路が初めて始動されるとき、未使用状態検知回路は、半導体回路がこれまで「使用されて」いないことを検知して、起動手続き又は試験実施手続き（或いは両方）を自動的に作動させることになる。半導体回路が使用された後は、未使用状態検知回路は、当該半導体回路がもはや未使用状態ではないということを表示する。未使用状態検知回路は、半導体回路がこれまで未使用であったか否かを検知するのに、半導体回路の専用の不揮発性メモリアレイ又は汎用不揮発性メモリ部分の専用領域の状態を使用する。
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