【課題】少なくとも一つのテスト待機ディスプレイパネルモジュールを順次に複数のテスト姿勢に固定してバーンイン実験を行うことができるディスプレイパネルモジュール用多方向バーンイン実験設備を提供する。
【解決手段】少なくとも一つのテスト待機ディスプレイパネルモジュールを挟んで固定することにより、テスト待機ディスプレイパネルモジュールを複数の実験受け位置に選択的に調整して固定できるディスプレイパネルモジュール用多方向バーンイン実験設備において、実験チェンバーを有し、実験チェンバーの温度を実験温度範囲に制御する温度調整制御ボックスと、少なくとも一つのディスプレイパネルモジュール受け枠と、ディスプレイパネルモジュール受けロッドに固定され、テスト待機ディスプレイパネルモジュールを挟んで固定する少なくとも一つのパネル治具と、を含む。 （もっと読む）

【課題】ＣＯＢ型ライトバーを検査するときに、被測定ライトバー上の複数の発光素子の実際の位置を測位することができるライトバーの検査装置及びその検査方法を提供する。
【解決手段】ライトバーの検査装置は、支持部と、支持部上に配置され、所定の電流を受け取ると発光する複数の発光素子とを有する少なくとも１つの被測定ライトバー３を検査するために用い、載置装置６１、電流源装置、撮像装置６２及び処理分析装置を備える。載置装置６１は、少なくとも１つの被測定ライトバー３を載置する。電流源装置は、被測定ライトバー３の複数の発光素子を点灯駆動するために、被測定ライトバー３の検査電流を供給する。撮像装置６２は、点灯駆動する発光素子に対向した箇所に位置し、発光素子が発光するときの画像データを順次キャプチャし、画像データを出力する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、検出装置を有する太陽光シミュレータ及び太陽電池検査装置を得ることにある。
【解決手段】本発明の検出装置を有する太陽光シミュレータ及び太陽電池検査装置の前記本体は照射口を有する密閉空間であり、前記密閉内には照射口の方向に向けた角度で第１光束を放出するための発光体を設置する。また第１光束の進行方向の経路上に前記第１光束を第１サブ光束と第２サブ光束に分けるための分光装置を設置し、そのうち前記第１サブ光束を前記照射口の位置にある検査用太陽電池に向けて投射させて、太陽電池検査装置として使用する。また、前記第２サブ光束の進行経路上には前記第２サブ光束を受け取るための検出装置を設置し、さらに前記検出装置から信号を出力して、前記発光体から放出される第１光束の大きさをモニタリングするために使用する。このようにして、太陽電池の測定の正確性を確保する。 （もっと読む）

【課題】撮影の動作を増加しない前提で、カラー情報を有する立体的輪郭映像を得ることができ、そしてカラー情報を有し奥行きがより深い平面的明瞭映像を得ることができる撮影装置とその撮影方法を提供する。
【解決手段】測量物に対してスキャンを行い、光源と、第１分光器と、顕微接物レンズ組と、第２分光器と、単色映像センシングデバイスと、映像センシングデバイスと、を含む撮影装置において、光源は、照射光ビームを射出するためのものであり、第１分光器は、照射光ビームを反射するためのものであり、顕微接物レンズ組は、測量物の上方に設けられ、反射基準面を含み、第２分光器は、第１分光器の上方に設けられ、工作光ビームを第１子光ビームと第２子光ビームとに分け、単色映像センシングデバイスは、第１子光ビームの行進経路に設けられ、映像センシングデバイスは、第２子光ビームの行進経路に設けられる。 （もっと読む）

【課題】発光ダイオードの特性を模擬可能であり、そして相違の制御コマンドを入力することにより、相違の発光ダイオードの特性を模擬することができる電子負荷を提供する。
【解決手段】電源からの入力信号を受信して模擬信号を発生し、模擬信号は、何れかの時間での電圧値および電流値が模擬したい発光ダイオードの特性曲線に近似し、処理ユニットと、電圧測定ユニットと、制御処理ユニットと、を含む電子負荷において、処理ユニットは、電子負荷の外部からの一組の制御コマンドを受信し、一組の制御コマンドは、少なくとも一組のパラメータを含み、電圧測定ユニットは、入力信号の電圧を測定して、少なくとも一つの測定結果を発生し、制御処理ユニットは、パラメータ設定器および電圧測定ユニットと通信的に連接し、一組のパラメータと測定結果とを計算して、調整コマンドを発生して電流アンプに伝送する。 （もっと読む）

【課題】干渉スペクトル内のノイズの影響を低減させる表面形状測定方法を提供する。
【解決手段】表面形状測定方法（surface profile measuring method）において、広帯域光源が分光器を経て分光された後、それぞれ被測定物の表面と基準面を照射することで、２つの表面の反射光の間で干渉が生じ、一定のステップで、物体の表面と分光器の距離を変えることにより、高度値が光強度に対応する干渉スペクトルが生じる。次に、この干渉スペクトルを走査することで、最大光強度に対応する第一干渉縞を見つけ出す。その後、第一干渉縞及びその付近の干渉縞において、干渉スペクトルの対称性の原則を使用し、対称性が最適となる第二干渉縞を見つけ出す。そして、この第二干渉縞において、位相補償法を利用して、第二干渉縞の波頭に対応する零の光路差箇所、即ち被測定物表面の高度値を計算する。 （もっと読む）