分析カード、ならびに分析カードのチャンバを隔離するためのデバイスおよび方法を記載する。分析カードは、軟化温度を有する1つまたは複数の材料、例えばプラスチックから形成される基板を備え、該基板は、それぞれの反応チャンバと連通するチャンネルを画定する。分析カードは、チャンネルの領域で少なくとも軟化温度まで加熱しうる。軟化されたプラスチックは変形させることができ、これは例えば基板を軟化させるために熱を与えても与えなくてもよいツールを用いて為しうる。このようにして、基板のプラスチックによってチャンネルを少なくとも部分的に閉塞させることができ、それにより、反応チャンバを隔離することができる。また、本発明は、分析カードを加熱して変形させるためのピンを含むツールデバイスを製造する方法にも関する。

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質量分析計やイオン・ガイドのような多重極計器において修正可能な漏れ磁場を生成するシステムおよび方法について説明する。システムは、第1の極対と、第2の極対と、イオンが導体構成に入射するかまたは導体構成から出射するのを可能にする終端装置とを持つ導体構成を含む。第1の電源は、第1の電圧を印加することによって終端装置の近くで漏れ磁場が発生するように第1の極対に第1の電圧を供給する。終端装置電源は、漏れ磁場をイオンの入射または出射を容易にするように修正する終端装置電圧を終端装置に供給する。
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