説明

有限会社 フジ・オプトテックにより出願された特許

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【課題】
格子パターンの繰り返しピッチを自在に変更することで多種の被測定対象に対応でき、、また、繰り返しピッチが異なる複数の格子パターンによるコントラストの検出結果を利用して、精度が高い距離検出が可能な三次元形状計測装置および三次元形状計測方法を提供する。
【解決手段】
液晶ストライプ格子の開口を制御して空間上での繰り返しパターンを形成でき、かつ繰り返しパターンの繰り返しピッチを変更できる制御部を備えた液晶装置11と、液晶ストライプ格子を介して被測定対象に前記繰り返しパターンを投影する光源装置12と、被測定対象上に投影された前記繰り返しパターンにかかる画像を取得する撮影装置13と、撮影装置により撮影された画像のコントラスト値を検出し、基準位置から前記被測定対象までの距離を測定する距離測定装置13と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


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