ダクト（１）内における気体中の通過粒子状物質の存在を検出するために提供される装置には、（ｉ）外側からダクトの基本的に断面全体及びダクト上を掃引可能な１つ以上の照射光（４）放射源（３）と、（ｉｉ）ビームがダクトの断面上を掃引されているとき、照射光内における任意粒子状物質からの照射光の任意閃光の存在及び位置を検出するための１つ以上の検出器（６）であって、ビームがダクトの断面上を掃引されているとき、ダクトの外部でダクトの掃引エリアを投影する領域の外側に搭載されるように構成された検出器（６）と、が含まれる。
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ダクト（４）内のガス中における通常ゼロすなわち許容できるレベルより上の一過性微粒子の存在を検出するための装置および方法。前記装置は、ダクト（４）のほぼ全断面にわたって投影することができる赤外線、紫外線および可視光線から選択した照射用の少なくとも１つのエミッタ（２）と、微粒子からの照射の任意の閃光を検出するための少なくとも１つの検出器（８，１８，２５）とを備える。装置および方法は、例えば、病院および発電所のような微粒子の堆積または存在が望ましくないエリア内の微粒子を検出、監視する際に特に役に立つ。
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