【課題】実装チップを検査したり選別したりするために用いる実装チップ検査・選別装置を提供する。
【解決手段】実装チップ検査・選別装置は、複数の実装チップＣを搬送するために用いる回転ユニット１と、チップテストユニット２と、チップ選別ユニット４とを備える。回転ユニット１は、少なくとも１つの可動回転盤１１と、可動回転盤１１に設けられた複数の収容部１２と、収容部１２内のそれぞれに設けられた複数の吸排気両用開口とを有する。収容部１２のそれぞれには、少なくとも１つの実装チップＣが選択的に収容される。チップテストユニット２は、回転ユニット１に隣接するように配置され、実装チップＣをテストする少なくとも１つのチップテストモジュール２０を有する。 （もっと読む）

【課題】小さい透明ディスクを備え、電子デバイスの底面を検査する機能を達成すると共に、該ディスクは、高硬度の性質を有し、検査すべき電子デバイスがディスクにぶつかって傷付けてしまうことを避け、画像取得する際の干渉現象を減少し、検査の正確度を向上させる検査システムを提供する。
【解決手段】複数の電子デバイス２００を置くための第１の透明ディスク１０と、第１の透明ディスク１０の下方に設けられ、電子デバイス２００の底面を検査するための第１の画像受取ユニット１１と、第１の透明ディスク１０に隣接する第２のディスク１２と、第１の透明ディスク１０と第２のディスク１２の隣接位置に設けられ、第１の透明ディスク１０上の電子デバイス２００を案内し第２のディスク１２に転送するガイドユニット１３と、第２のディスク１２の上方に設けられ、電子デバイス２００の他の表面を検査するための複数の第２の画像受取ユニット１４とを含む。 （もっと読む）

【課題】従来の測定装置では、クリッピング保護ユニットが装置を保護するが、クリッピング保護ユニットが動作する時に発生する逆方向且つ極めて大きい電圧又は電流が、測定すべき集積回路に及ぶとともに、不安定な振動電圧及び状態の誤判定を生じうる。
【解決手段】本発明に係る集積回路のスタティックパラメータの測定装置は、測定の時に集積回路の負荷に自動に従い、集積回路にどの出力モードを決定できる。該測定装置が、電圧出力モードで作動する時に、電流値を自動的に制限し、且つ、電流出力モードで作動する時に、電圧値を自動的に制限し、動作電圧及び動作電流の範囲を安定させる。 （もっと読む）