ライトポイント・コーポレイションによる特許

ライトポイント・コーポレイションにより出願された特許

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電子デバイスにおけるパケットエラー率の決定論的試験のためのシステム及び方法

【課題】電子機器におけるパケットエラー率を試験する方法及びシステムを提供する。
【解決手段】試験器１０４からＤＵＴ１０２に一連のデータパケット２０１を送信し、事前定義される受信エラーフリーデータパケットの数を設定し、一連のデータパケット２０１からＤＵＴ１０２でエラーなしに受信されたデータパケット２０１の数が事前定義される受信エラーフリーデータパケットの数と等しいか評価し、一連のデータパケット２０１からＤＵＴ１０２でエラーなしに受信されたデータパケット２０１の数が事前定義される受信エラーフリーデータパケットの数と等しくないとき正常動作のＤＵＴ１０２でゼロの受信パケットエラーを生成することが既知の電力レベルで試験器１０４からＤＵＴ１０２に追加データパケットを送信して、電子機器におけるパケットエラー率を試験する。（もっと読む）

単一のベクトル信号発生器を使用して被試験デバイスを検証するためのシステム及び方法

【課題】２×２、３×２、及び４×２のＭＩＭＯ無線デバイスを試験するための、改善された機能を提供する。
【解決手段】被試験デバイス（ＤＵＴ）に結合される単一のベクトル信号発生器（ＶＳＧ）を含み、ＶＳＧはデータパケットを、第１符号語、第２符号語として送信するように構成され、ＶＳＧは第１符号語、第２符号語を、エミュレートされた第１波形、第２波形として操作するためのソフトウェア、ハードウェアのアーキテクチャーを含み、第１波形は、第２波形とは異なる。ＤＵＴは、エミュレートされた第１、第２波形を、ＶＳＧからの規定信号として受信するよう構成される。規定信号は第１受信信号、第２受信信号を含み、ＤＵＴは第１受信信号、第２受信信号を操作しブロック誤り率の結果を生成するためのソフトウェア、ハードウェアのアーキテクチャーを含む。（もっと読む）

複数のデジタル信号トランシーバを並列で試験するためのシステム及び方法

同期されたデータパケットの所定のＵＬ試験シーケンスを使用しながら、試験測定を事前に設定することによって、及び被試験デバイス（ＤＵＴ）からデータパケットの部分を多重化し、かつインターリーブすることによって複数のデジタルデータパケットトランシーバを同時に試験する方法。
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複数のデータパケット送受信機を所定の時間間隔の間に一緒に試験するための方法及びシステム

複数のデータパケット送受信機を、所定の時間間隔の間に一緒に試験するための方法及びシステム。ダウンリンクデータパケットのシーケンスが生成され、複数のデータパケット送受信機による受信のために、対応するダウンリンクデータパケットのシーケンスとして分配され、これら複数のデータパケット送受信機のそれぞれが、少なくとも所定の時間間隔のそれぞれの部分の間に、複数の対応するアップリンクデータパケットのシーケンスのうちのそれぞれを送信することによって、対応するダウンリンクデータパケットのシーケンスのうちのそれぞれに応答する。対応するアップリンクデータパケットのシーケンスのそれぞれの少なくとも部分が合成されて、少なくとも１つの信号パラメーターが測定されるところの試験データパケットのシーケンスが提供される。
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