【課題】 印加されるＲＦ電圧Ｖｓｗに制御可能に耐えるＲＦスイッチ、又はこのようなスイッチの製造方法を提供する。
【解決手段】 スイッチは直列接続された構成ＦＥＴのストリングを有し、このストリングのノードは隣接するＦＥＴの各対の間にある。方法は、各構成ＦＥＴにわたって分布するＲＦスイッチ電圧の不一致を減らすよう、容量的にストリングを有効に調整すべくストリングの異なるノードの間のキャパシタンスを制御し、それによって、スイッチ・ブレイクダウン電圧を高める。キャパシタンスは、例えば、ストリングのノードの間に容量特性配置することによって、及び／又は異なる構成ＦＥＴの設計パラメータを変化させることによって、制御される。各ノードについて、ノードに現れるＶｓｗの比率による各有意なキャパシタの積の和は、おおよそ零になるよう制御され得る。 （もっと読む）

印加されるＲＦ電圧Ｖｓｗに制御可能に耐えるＲＦスイッチ、又はこのようなスイッチの製造方法に関する。スイッチは直列接続された構成ＦＥＴのストリングを有し、このストリングのノードは隣接するＦＥＴの各対の間にある。方法は、各構成ＦＥＴにわたって分布するＲＦスイッチ電圧の不一致を減らすよう、容量的にストリングを有効に調整すべくストリングの異なるノードの間のキャパシタンスを制御し、それによって、スイッチ・ブレイクダウン電圧を高める。キャパシタンスは、例えば、ストリングのノードの間に容量特性配置することによって、及び／又は異なる構成ＦＥＴの設計パラメータを変化させることによって、制御される。各ノードについて、ノードに現れるＶｓｗの比率による各有意なキャパシタの積の和は、おおよそ零になるよう制御され得る。
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蓄積電荷シンク（ＡＣＳ）を用いてＭＯＳＦＥＴの線形性を改善する方法及び装置が開示される。この方法及び装置は、ＳＯＩ型ＭＯＳＦＥＴ内の蓄積電荷を除去、低減あるいはその他の方法で制御し、それによりＦＥＴ性能の改善をもたらす。典型的な一実施形態において、少なくとも１つのＳＯＩ型ＭＯＳＦＥＴを有する回路は、蓄積電荷レジームで動作するように構成される。ＳＯＩ型ＭＯＳＦＥＴのボディに動作可能に結合されたＡＣＳが、該ＦＥＴが蓄積電荷レジームで動作するときの蓄積電荷を排除、除去あるいはその他の方法で制御し、それによりＳＯＩ型ＭＯＳＦＥＴのオフ状態での寄生ソース−ドレイン間容量の非線形性を低減させる。ＳＯＩ型ＭＯＳＦＥＴを用いて実現されるＲＦスイッチング回路において、ＳＯＩ型ＭＯＳＦＥＴが蓄積電荷レジームで動作するときの蓄積電荷を除去あるいはその他の方法で制御することによって、高調波歪み及び相互変調歪みが低減される。
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