説明

由田新技股▲分▼有限公司により出願された特許

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【課題】表面形態を含む組織の如何なる箇所にある欠陥も高い検出率で検査できる透光性物品の欠陥検査装置及び該装置を用いる透光性物品の欠陥検査方法を提供しようとすることを目的とする。
【解決手段】照明のある環境下に、透光性物品の組織における欠陥を検査するための装置において、前記透光性物品を置くべき箇所の後方に、標準画像のついている標準画像ユニットが設置されており、それにより、前記透光性物品を通してみた画像の前記標準画像との差異から、該透光性物品の組織に欠陥がある箇所を探し出すことができることを特徴とする透光性物品の欠陥検査装置、及び該欠陥検査装置を利用できる欠陥検査方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】光学式ポインターの光追跡によってコンピュータを遠隔制御するシステム、制御モジュール及び方法を提供する。
【解決手段】投射されたイメージフレーム及び光カーソルの一連のイメージをキャプチャする。キャプチャされたイメージを記憶する。キャプチャされたイメージのそれぞれに対して光カーソルの位置を検出する。光カーソルの閉ループ光レールを得る。1のキャプチャイメージのイメージ部分を標準サンプルイメージとして選ぶ。標準サンプルイメージをイメージフレームと比較して、多くて1つのアイコンを含み且つ標準サンプルイメージに最も似ているイメージフレームからイメージブロックを定める。決められたイメージブロックに含まれるアイコンに関連するコマンドを実行させるように、コンピュータ1へ決められたイメージブロックに基づき制御信号を生成し発送する。 (もっと読む)


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