【課題】新たな半導体記憶装置の使用開始直後から使用限界予想時間（予想寿命）を特定することができる半導体記憶装置の使用限界予想時間解析用プログラムを提供する。
【解決手段】半導体記憶装置の容量からイレースカウントの最大値を算出し、記憶手段に記憶させる最大値算出工程と、イレースカウントを一定周期毎に取得するイレースカウント取得工程と、イレースカウントと、イレースカウントの取得時間とを、記憶手段に記憶するイレースカウント記憶工程と、イレースカウント取得工程が複数回なされたことを条件に、イレースカウントの時間的推移に基づく上昇係数を演算し、記憶手段に記憶されたイレースカウントの最大値との関係で、半導体記憶装置の使用限界予想時間を演算する演算工程と、この演算工程により演算された使用限界予想時間を基に使用限界予想情報を、表示手段に表示／出力手段より出力する使用限界表示出力工程と、を実現させる。 （もっと読む）

【課題】最も適切なストレージ機器を選択できるように、特定のホスト機器から伝送されるログデータの特性を解析し、このログデータの特性の解析結果から、該ホスト機器との関係において、適切なストレージ機器を選択する際の判断要素を入手するために使用されるログデータ解析装置又はログデータ解析用プログラムを提供する。
【解決手段】コンピュータ４と、記憶手段９に記憶された解析用プログラムと、を備え、上記記憶手段９には、ストレージ機器２と特定のホスト機器１との間において採取した多数のログデータが記憶されてなるとともに、入力手段１１による解析操作を開始条件として、制御手段８は、上記解析用プログラムにより、多数のログデータから、読取りコマンド及び書込みコマンドの発生回数をそれぞれカウントし、上記読取りコマンド及び書込みコマンドのカウント結果を、比較可能な第１の解析結果情報として、表示手段１２に表示する。 （もっと読む）

【課題】特定のホスト機器から伝送されるログデータの特性から使用限界予想時間（予想寿命）を特定・解析し、適切なストレージ機器を選択する際の判断要素を入手するために使用されるストレージ機器の使用限界予想方法又はその使用限界予想装置若しくはその使用限界予想時間解析用プログラムを提供する。
【解決手段】ログデータからテストスクリプトを生成し、このテストスクリプトが記憶されたコンピュータと特定のストレージ機器とを互いに接続して、イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算するとともに、この上昇係数と特定のストレージ機器に表示されたイレースカウントの最大値とから、該特定のストレージ機器の使用限界予想時間を演算する。 （もっと読む）