説明

エフエー・ビジョン株式会社により出願された特許

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【課題】顕微鏡の被写界深度を大幅に超えた立体形状を持つ被測定物を、被測定物や顕微鏡等を移動させることなく、短時間で効率的に、高精度な形状測定を行うことができる形状測定装置および形状測定方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る形状測定装置1は、被測定物100に向けて平行光Rを照射する照明装置30と、被測定物100を挟んで照明装置30と対向する位置に、前記平行光の光軸と自身の光軸が一致するように配置される被写界深度の大きな顕微鏡40と、顕微鏡40により拡大された被測定物100の像を、0.2μm乃至2μmの分解能で撮像するカメラ50と、平行光Rが被測定物100の測定部分の外周形状を映し出すように平行光R内に被測定物100の測定部分を配置する保持装置20と、を備える。 (もっと読む)


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