信号サンプルトリガー装置（２０６）は、入力部（３０２、３０４）と、前記入力部（３０２、３０４）と連結された処理リソース（３００、５００）と、前記処理リソース（３００、５００）と連結された出力部（３０６）とを備える。処理リソース（３００、５００）は、使用時に、位置インクリメント情報に応じてトリガー信号（４００、６００）を生成するように構成される。位置インクリメント情報（４０２、４０４、６０２、６０４）は、入力部（３０２、３０４）を通じて受信され、アナログ信号のサンプリングの実行を引き起こすトリガー信号（４００、６００）は、出力部を通じて提供される。
（もっと読む）

光学測定装置は光学系（１００）を含む。光学系（１００）は、放射源（１０２）と、撮像装置（１１２）とを含む。放射源（１０２）は、使用時に電磁放射のビームを生成するように構成される。更に光学系（１００）は、電磁放射のビームを測定部位（１３２）に入射するように構成される。光学測定装置は、測定部位から反射ビームを受光し且つ反射ビームの受光に応答して光学系との測定部位の位置合わせの程度を示すフィードバック情報を提供するように構成されるフィードバック構成（４００、６０２、６０４）を更に含む。
（もっと読む）

光学測定装置は、受光軸（１１５）を有する光学系（１００）を含む。光学系（１００）は、測定部位（１１４）に送出されるプローブ用ビームを生成する源（１０２）を含む。光学系の検出器（１１２）は、測定部位（１１４）から反射ビームを受信する。装置は、光学系（１００）の受光軸（１１５）との測定部位（１１４）の位置合わせの程度を判定するために、検出器（１１２）から出力信号を受信し且つ出力信号の特徴を評価する処理リソースを更に含む。
（もっと読む）