本発明は、材料２における少なくとも一つの材料逸脱を検出および分析するための、影響を受けない材料分析の方法に関する。この方法は、材料と接触して配置される触覚センサー４を用いることによって、材料２における硬度の異なる領域１を検出すること、反射光Ｂを光スペクトルの形態で得るために、検出された領域をクロマトグラフィー光Ａで照射すること、および材料の物理的および化学的分子構造に関する情報を得るために、得られた光スペクトルを分析することを特徴とする。本発明は集成装置にも関する。
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