試験サンプル（１）は、例えば食品や医薬品、特にパッケージされた物品の異物のスポットに、Ｘ線や金属検出器を利用して生産ラインの測定及び監視装置（５）の性能を試験するのに適している。試験サンプル（１）は、特定のサイズの金属粒子のような基準試験体（３）を閉じ込めた薄板状のカード（２）を有する。このカード（２）又は他のサンプル（１）は、光学スキャナ（１２）によって読み取り可能なバーコードを含む少なくとも１つの識別ゾーン（４）を支持している。装置（５）を試験するために、カード（２）は、この装置を通過する物品のパッケージ（１３）に置かれる。光学スキャナ（１２）は、正しい試験サンプル（１）が提示されたのを確認するために、バーコードを読み取り、結果がコンピュータ（９）のログに記録される。この結果が提示された特定の試験サンプル（１）から予期されるものと一致しなければ、装置の再較正又は修理の必要がある。
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