説明

ラピスカン ラボラトリーズ、インコーポレイテッドにより出願された特許

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本発明は、複数の検出器と、制御装置と、X線源とを有し、a)前記制御装置は、複数の検出器の少なくとも一つから、最低X線透過レベルを検出、及び、特定し、b)前記制御装置は、前記最低X線透過レベルを少なくとも一つの既定の閾透過レベルと比較し、c)前記制御装置は、前記比較に基づいて、調整信号を生成し、前記X線源は、前記調整信号を受信し、前記調整信号に基づきX線のパルスの持続時間を調整することを特徴とするX線走査システムを提供する。
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