本発明は種々の局所解像度を含む顕微鏡検査法によってサンプルの像を生成するための方法に関し、以下の顕微鏡検査法すなわち、ＬＳＭ顕微鏡像を生成するためのレーザー走査型顕微鏡検査法であって、その顕微鏡検査法では、サンプルが構造化されたライン又は広域照明によってルミネセンスを生じるように励起され、その構造は回転され、回転位置毎に何度か変位され、少なくとも３つの回転位置及び回転位置当たり３つの変位位置が実現され、位置毎に表面検出器上にルミネセンスを生じるサンプルが結像され、こうして得られた像からその像の光学解像度よりも高い局所解像度を有する第１の顕微鏡像が生成される、レーザー走査型顕微鏡検査法と、ＰＡＬ原理によるさらなる顕微鏡検査法であって、それにより、第２の顕微鏡像が生成され、その像は、光学解像度に対して高い局所解像度においてルミネセンス放射を放出するマーカー分子の幾何学的な位置を指示する、ＰＡＬ原理によるさらなる顕微鏡検査法と、さらなる顕微鏡検査法であって、サンプルがＳＴＥＤ、ＥＳＡ又はＲＥＳＯＬＦＴ技法に適したマーキング分子を用いてマーキングされ、ＳＴＥＤ、ＥＳＡ又はＲＥＳＯＬＦＴによって第３の顕微鏡像が生成される、さらなる顕微鏡検査法のうちの少なくとも２つが組み合わせられ、それらの得られた顕微鏡像が重ね合わせられる。
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本発明はＰＡＬ顕微鏡法のための方法に関し、個々の像が組み合わされて全体像にされる。個々の像のうち少なくとも一部又は個々の像のうち少なくとも一群が評価されるという点と、個々の像露光の少なくとも１つの変数が後続の個々の像露光のために調整されるという点において、個々の像の露光の規制が行われる。
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