【課題】光照射経路を構成する光源やレンズ等の相対位置の微小なずれに起因するサンプル流上の照射スポットの位置ずれを抑制し、微小粒子に対して高精度に光を照射して、安定した測定性能を得ることが可能な微小粒子分析装置を提供。
【解決手段】光源１１と、光源１１からの光をマルチモード光ファイバ１５の一端１５ａに集光する第一の集光レンズ１４１と、マルチモード光ファイバ１５の他端１５ｂから出射される光を微小粒子Ｐに集光する第二の集光レンズ１４２と、光の照射により微小粒子Ｐから発生する光を検出する検出器２３と、を備える微小粒子分析装置を提供する。 （もっと読む）