説明

アプステック システムズ リミテッドにより出願された特許

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用途:監視領域内の標的の遠隔的な検査
主題:監視領域に、2以上の主要マイクロ波エミッタを用いてマイクロ波を照射する。監視領域から反射された信号を1以上の平行記録チャネルを用いて記録し、さらにこの記録信号をコヒーレント処理し、監視領域内散乱体の(主要エミッタから標的までの距離に基づいて)再構築された形状の最大強度の値を得る。前記コヒーレント処理の結果として得られた情報を、三次元表面に相当するマイクロ波イメージを構築することによって表示する。さらに、マイクロ波エミッタに同期した2以上のビデオカメラを用いて、標的のビデオイメージを獲得し、得られたビデオイメージを変換し、三次元ビデオイメージ及びマイクロ波イメージを一般化座標系へと変換する。これによる技術的成果として、秘密裏の検査における誘電体の存在又は非存在決定の信頼性が向上する。 (もっと読む)


本発明は、電気工学、より具体的には、誘電体の誘電率の遠隔測定に関する。
反射体をバックグラウンドとして誘電体の誘電率を決定するために、誘電体にN種類の周波数のコヒーレントマイクロ波を照射して、誘電体及び反射体の三次元マイクロ波イメージを作成し、またマイクロ波照射源と同期した2以上のビデオカメラを使用して、ビデオイメージを作成する。取得したビデオイメージをデジタル形式へと変換し、所定の領域の三次元ビデオイメージを構築する。三次元ビデオイメージ及びマイクロ波イメージを一般化座標系へと変換し、距離Z(マイクロ波照射源と、誘電体の存在しない反射体との距離)及び距離Z(マイクロ波照射源と、反射体のマイクロ波イメージの、誘電体領域に当たる部分との距離)を算出する。ビデオイメージに基づいて、距離Z(マイクロ波照射源と、誘電体のビデオイメージとの距離)を一般化座標系の中で決定する。これによって、誘電体の誘電率は、下式(I)


の関係によって決定する。本発明により、移動する不規則な形状の誘電体の誘電率を遠隔的に決定することが可能となる。
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