【課題】スマートカードチップを検査するための自動検査システム。
【解決手段】システムは、刺激後のランダムな時間に生成される応答信号がパターン発生器１２０と同期できるようにする同期回路１２２を含む。上記のシステムは、同期回路内に多数の経路を有し、同期回路によって、いくつかの被検査デバイスＤＵＴからの応答が互いに同期し、検査が同時に実行されるようになる。複数のスマートカードチップがランダムな時間に刺激に対して応答する場合があるので、そのシステムはそのような複数のスマートカードチップを検査するのに適応する。複数のスマートカードチップを検査するための他の適応形態も含まれる。これらの適応形態は、変調されたＲＦ搬送波信号を生成するための回路と、ＲＦ搬送波にかけられる変調を検出することができる信号処理回路とを含み、検査にかけられるデバイスに変更を加えることなく、スマートカードチップが検査できるようになる。 （もっと読む）

【課題】 故障処理回路において、テスト対象メモリ（ＭＵＴ）から故障ロケーション情報を識別するために使用される故障捕捉回路が開示される。
【解決手段】 故障捕捉回路は、複数のチャネルを備え、ＭＵＴに接続するように適合される故障検出回路を含む。故障検出回路は、テスト信号をＭＵＴに与え、そこからの出力信号を処理して故障情報にするように動作する。テスト時間を最小化するために、故障メモリ回路および高速リンクが設けられる。高速リンクは、故障メモリ回路を故障検出回路に接続し、シリアルデータ転送能力をその間に提供する。 （もっと読む）

【課題】非常に高いデータ密度を有する信号を伝送するようにしたプリント回路ボードを提供する。
【解決手段】１対のプリント回路ボード１２，１４を有するプリント回路ボード組立体１０に於いて、ボード１２，１４は誘電体１６の表面から誘電体１６の内部領域１７に通り抜ける導体バイア２２を有し、基準電位層２０とその基準電位層２０に平行に配置された信号導線とを有していて、所定のインピーダンスを有する伝送線を与える。一方のボード１２の導体バイア２２に連結された信号コンタクト３８を有する第１の電気コネクタ３４が設けられ、他方のボード１４の導体バイア２２に連結された信号コンタクト３６を有する第２の電気コネクタ３２が設けられている。第１の電気コネクタ３４の第１の信号コンタクト３８は第２の電気コネクタ３２の第２のコンタクト３６に電気的に連結されるようにしてある。 （もっと読む）

記憶装置試験システム（１００）は床表面（１０）に実質的に垂直な第１の軸（２０５）を規定する少なくとも１つのロボットアーム（２００）を具備する。ロボットアームは、第１の軸の周囲を所定の円弧で回転することができ、第１の軸から半径方向に延びる。ロボットアームによってサービスされるために、複数の棚（３００）がロボットアームの周囲に配置される。試験のために記憶装置（５００）を運ぶように構成される記憶装置転送部（５５０）をそれぞれが受け取るように構成される複数の試験スロット（３１０）が、それぞれの棚に収納される。転送ステーション（４００）は、ロボットアームによってサービスされるために配置される。転送ステーションは、それぞれが記憶装置運搬部（４５０）を受け取るように構成される複数の運搬収納部（４２０）を具備する。 （もっと読む）

【課題】プリント回路ボードと共に用いるための非常に高密度の電気コネクタに関して、極めて短いエッジ立ち上がり時間を有するデータ信号で動作させることができ、機械的に頑丈で、比較的少ない製造コストで実現する。
【解決手段】本発明によれば、構成部分がハウジング内に配置された部分に垂直に向いたパッドになっている複数の導電体を有する電気コネクタが提供される。また、プリント回路ボードへの実装を容易にするために、はんだ球がパッドに配置される。パッドは屈曲した接続部を介して導電体に連結されている。接続部はパッドによって与えられるキャパシタンスに対する一連の共振回路とプリント回路ボードへのアタッチメントを与える形状になっている。 （もっと読む）

【課題】モジュラー式コネクタをシングルエンド及び差動信号接触子を混成可能な高速、高密度に対応するものとし、かつ製造作業の簡単な構造を提供する。
【解決手段】コネクタ１１４，１１６は２つの片から成り、一方の片１１４にピン１２２とシールド１２８とを有し、他方の片１１６にソケットタイプの信号接触子１５８及びシールド板１５０とを有している。該シールド１２８，１５０は接地構成を有しており、該接地構成は様々な装置の構築のための電磁界、同時スイッチ構成及び信号速度制御するようにされており、あらゆるソケットタイプの信号接触子を利用して信号伝送が可能なようにされている。更に、少なくともワンピースのコネクタ１１６がウェファー１５４から製造され、各接地平面及び信号コラムが各部品に射出成形され、該各部品１６６，１６８は組み合わされると、ウェファー１５４を形成する。 （もっと読む）

記憶装置処理装置はマニホールド（３２０）、マニホールドと流体連通する１つまたは複数の真空吸引構成要素（３１３ａ〜３１３ｄ）、および１つまたは複数の先端部（３３０ａ〜３３０ｄ）を備える。それぞれの先端部は対応する真空吸引構成要素の１つの端部と結合する。それぞれの先端部は１つまたは複数の運動軸に適合する。 （もっと読む）

【課題】テスターチャネルの密度を最大にしながら、ポゴピンを使用せず高い帯域幅信号性能を有するテスターインタフェースを提供する。
【解決手段】複数のテスター電子機器チャネルをデバイスインタフェースボードに取外し可能に連結するためのモジュラーテスターインタフェースにおいて、少なくとも１つのハーネスアッセンブリは、複数の同軸ケーブル５２とコネクタハウジングを備えており、同軸ケーブルは、それぞれ、中心導体と、中心導体の周りに同軸で形成され誘電体の層５８によって形成され、コネクタハウジングには、先端がインタフェース係合面を形成するように、ケーブルの遠位端を収容して互いに近接した関係で固定するための内側空洞が設けられており、相互接続部は、ハーネスアッセンブリとデバイスインタフェースボードの間に配置されており、複数の導体を含んでおり、ケーブルの遠位端を圧縮係合させるように形成されている。 （もっと読む）

【課題】障害分離および障害低減を改良する。
【解決手段】データネットワークと併用されるシステムは、それぞれネットワークユーザを含むネットワークと通信するよう適応された複数の診断ユニットを備える。中央コントローラは、動作可能に診断ユニットに接続され、診断ユニットにネットワーク障害の分離を助けるよう適応したテストを行うよう命令し、診断ユニットから受信したテスト結果を解析して、ネットワーク障害を決定するよう試みるために、診断ユニットと通信し、診断ユニットの動作を調整するよう適応される。障害分離および障害低減を改良する各種方法も提供される。 （もっと読む）

本発明によって、サンプルレート変換システムにおいて決定的に重要なパラメータである補間係数を、ＤＳＰクロックとデータクロックとの間に複雑な関係があるリアルタイムシステムで計算することを可能にする。通常、このようなシステムにおけるクロックの２つ又は３つは、単純な関係（ＣＬＯＣＫ_１＝２＊ＣＬＯＣＫ_２等）を有する。この関係は、実際には、考慮されるクロックが３つではなく１つ又は２つしかない縮退した場合につながる。さらに、本発明によって、ＤＳＰクロックレートよりも高い入力データレートが可能になる。本発明は、任意の時間遅延が出力信号に適用されるようにすることも提供する。 （もっと読む）