説明

株式会社精研により出願された特許

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【課題】安定したコンタクトが可能で、しかも硬度が高く高寿命のプローブ針の製造方法を提供する。
【解決手段】プローブ針の製造方法において、支持体14上に、形成すべきプローブ針10の形状の凹部15を有するレジストパターン16を形成するフォトリソグラフィー工程と、カーボンナノチューブ17とカーボンナノチューブ17を分散させる分散剤が混入されたスルファミン酸ニッケルめっき液を用いて電解めっきを行い、レジストパターン16の凹部15内に、カーボンナノチューブ17が混入されたニッケルめっき体18を形成する電鋳工程と、レジストパターン16を除去する工程と、支持体14上からニッケルめっき体18を剥離する工程と、得られたニッケルめっき体18の少なくとも先端部のニッケルをエッチングしてカーボンナノチューブ17を露出させるエッチング工程とを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】プランジャから直接配線に導通して、高周波及び高電流での検査に対応可能とすると共に、プローブの交換を容易に行え得る検査ユニットを提供する。
【解決手段】配線支持ボード23に、配線11の線本体11bをレーザ溶射等により一体成形したボール状端子11cを所定量移動自在かつ弾性部材41により付勢して収納する。ピンボード22を貫通しかつスプリング26により付勢されてプランジャ25が所定量移動自在に支持される。プランジャ25の後端部に、弾性部材41により付勢されたボール状端子11cが接触する。 (もっと読む)


【課題】プローブのプランジャを案内するガイド孔は、面倒な孔加工を必要とするため、端子又は電極の狭ピッチ化及び多極化に対応するのが困難となっている。
【解決方法】上ブロック10及び下ブロック11に形成された円筒状の保持孔12,15にプローブ2が装着される。プローブのプランジャ6は、板状のガイド部19aと、その先端の接触部19bとを有している。上ブロック10には下方から有底の保持孔12が形成されると共に、上面sからガイド溝13が形成される。該ガイド溝13に、上記ガイド部19aが回り止めされ、かつ抜止めされて上下移動自在に案内される。 (もっと読む)


【課題】 配線接続部の耐久性を向上し、安定した電気的接続により確実かつ正確な測定が可能となる検査ユニットを提供する。
【解決手段】 検査用プローブ1をワーク16に向かって移動させると、探針部2先端がワーク16に接触すると略々同時にピン先ガイドボード12もワーク16に接触し、更にピンボード13を移動させて、螺旋バネ3を圧縮しつつ探針部2のワーク16の接触を確実にする状態にあっても、ピン先ガイドボード12は、ワーク16に接触した状態に保持されて螺旋バネ20を変形しつつピンボード13との相対移動を吸収し、よってピン先ガイドボード12と連結部材21を介して一体の配線支持ボード15も、ピンボード13の上記した移動に拘らず、探針部2がワーク16に当接した状態に保持されて、探針部2と配線支持ボード15との相対移動はない。 (もっと読む)


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