説明

オックスフォード インストルメンツ アナリティカル リミテッドにより出願された特許

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【課題】内部体積を画定する一つ以上の内部表面を有するハウジングを有しているX線検出器を提供する。
【解決手段】外管3、内管5等で構成されるハウジングは、内部体積内に真空を含むように使用中に構成される。X線センサ8は、ハウジングの内部体積内に配置される。ハウジング内に配置される、X線窓4は、外部環境からセンサへの検出されるべきX線の窓の通過を許容するように構成される。ゲッタ物質11は、真空内に存在するガス状のスピーシーズを吸収しかつゲッタ物質11で被覆された壁の部分からのガス抜けを実質的に防ぐために、一つ以上の内部表面にコーティングとして適用される。 (もっと読む)


【課題】未知サンプルを測定するのに用いられる分光計と同様の分解能及び効率である基準物質からのスペクトルを測定するのに用いられる分光計を提供する。
【解決手段】X線放射特性を用いた物質同定方法が提供される。監視されるX線放射特性を表すX線データは、入射エネルギービームに応答して試料から得られる。同様に、複数の物質の組成データを含むデータセットが得られる。試料物質はデータセット内に含まれる。組成データを用いてデータセット内の物質の各々について予測X線データが計算される。取得X線データと予測X線データとが比較され、この比較に基づいて試料物質の可能性のある素性が判定される。 (もっと読む)


【課題】後方散乱電子回折(EBSD)パターンの磁場歪みを修正すること。
【解決手段】後方散乱電子回折(EBSD)パターンの磁場歪みを修正する方法が提供される。最初に、EBSDパターンが、電子顕微鏡内に配置された試料から生成される。顕微鏡内の磁場の所定の表現が用いられ、顕微鏡内の電子の軌道が異なった出現角度に対して計算される。次に、計算された軌道を用いて、顕微鏡の磁場が実質的に存在しない場合のEBSDパターンを表現する、修正されたEBSDパターンが、計算される。 (もっと読む)


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