説明

日本システムデザイン株式会社により出願された特許

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【課題】
高速に任意の形状を測定し得る物体形状測定装置を提供する。
【解決手段】
被測定体を囲む枠体1内面に一定間隔で発光素子2と受光素子3を配置し、発光素子2をひとつずつパルス発光する。そして光を検出した受光素子3をスキャンして被測定体に対する接線上にある発光素子と受光素子の組を選択し記憶する。
被測定体の全周に渉り以上の処理を繰り返した後に求めた発光素子と受光素子の組から接線の式を求め、接線の交点を演算して補間することにより被測定体の外形データを得ることが出来る。 (もっと読む)


【課題】高速かつ高精度で回転する被検査物体の被検査面上の傷や欠陥を検出できる表面検査装置および表面検査方法を提供する。
【解決手段】 表面検査装置100は、取付部41と、レーザ光源42a,42bと、受光手段としてのフォトダイオード43a,43bとから構成されるセンサ部40を用いることで、2つの光源がそれぞれ所定角度に配置され、光ビームを被検査面へ照射し、所定の受光面積を有する2つの受光手段で被検査面からの反射光をそれぞれ受光するようになされる。これにより、回転する被検査物体、例えばカムシャフトのような真円ではない回転体の被検査面からの反射光も確実に検出でき、高速かつ高精度で回転する被検査物体の被検査面上の傷や欠陥を検出できる。 (もっと読む)


【課題】高速かつ高精度で平面および曲面上の傷や欠陥を検出できる表面検査装置および表面検査方法を提供する。
【解決手段】 表面検査装置100は、投光系に可動ミラー30と固定ミラー40a,40b,40cを設けることで、走査光を可動ミラー30により固定ミラー40a,40b,40cに反射させ、固定ミラー40a,40b,40cからの反射光は異なる角度から被検査物体11の被検査面に照射する。受光系に反射光のピーク点の位置および波形の分散値(光量分布)を検出することができる受光手段8を設け、被検査面より反射されたいずれかの反射光を受光し、反射光のピーク点の位置および波形の分散値を検出することで、反射光のピーク点の位置により光の反射角度を測定することが可能となり、また波形の分散値により被検査面に傷の有無を判断することができる。 (もっと読む)


【課題】動画像伝送に於いて発生する動画像のフリーズや乱れを防止する手段を提供し、動画像の視認性を向上する。
【解決手段】撮像カメラ1より送出された1枚のフレーム画像データは、フレーム画像送信部と補助画像抽出部22a,22bに同一データで各々送られる。フレーム画像送信部に送られたフレーム画像データは、そのまま伝送部3を通して受信装置4に送信される。補助画像抽出部22a,22bに送られたフレーム画像データは、輪郭画像、2値画像、階調画像、部分画像などの補助画像データに変換され、補助画像送信部に送られ、伝送部3を通して受信装置4に送信される。欠落があるフレーム画像データは、受信装置4のフレーム画像合成部43に送られ、欠落があるフレーム画像データに対応する補助画像データと合成され、欠落を修正したフレーム画像データとしてフレーム画像出力部44から動画像再生部5に出力され、表示部で再生される。 (もっと読む)


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