説明

アフィメトリックス インコーポレイテッドにより出願された特許

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【課題】標識材料を含む試料を高速で撮像する走査システムおよび方法、特に、ポリマー配列アレイ、例えばオリゴヌクレオチドアレイを走査するシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】基板の表面上のマークされた領域を検出するシステムは、励起放射源と、該励起放射源からの放射を該基板の該表面の選択領域上にフォーカシングさせる焦点システムであって、フォーカスされたスポット径に対する走査フィールド径の比が約2000より大きく且つ開口数が約0.2よりも大きい対物レンズを含むフォーカシングシステムと、該基板の該表面にわたって少なくとも5画像ライン/秒の速度で該フォーカスされた励起放射を走査する放射指向システムと、 該励起放射に応答して該基板の該表面からの発光を検出する検出器であって、該対物レンズが該発光を受けて該発光を該検出器に伝送する、検出器と、 該検出された発光の量を、該発光が発せられた該基板の該表面上の位置の関数として記録するデータ取得システムを有する。 (もっと読む)


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