【課題】回路基板の複数の端子の導通試験を容易に行えるプローブユニットを提供する。
【解決手段】複数の端子に対応して複数の孔が設けられたユニット板７２と、ユニット板７２に設けられた複数の孔７３にスライド可能に取り付けられた複数のプローブ７１とを備え、各プローブは、孔７３をスライドする導電性の胴部７４と、胴部７４の一端を端子９２に接触させる接触機構６０を備え、接触機構６０は、胴部７４の一端に取り付けられ端子に吸着する導電性磁石７５を有する。また、胴部７４の周囲に設けられ胴部７４の一端を端子９２に押し付けるばね７６とを有する。 （もっと読む）