【課題】製造バラツキによる影響の少ない発振回路を有した抵抗周波数変換回路を提供する。
【解決手段】抵抗周波数変換回路が、第１のノードと第２のノードとの間に接続された第１のキャパシターと、前記第２のノードと第３のノードとの間に接続され、前記第２のノードにおける信号を反転出力する第１の反転ゲートと、前記第３のノードと前記第１のノードとの間に接続される第１の抵抗と、前記第１のノードと第４のノードとの間に接続される第２の抵抗と、前記第４のノードにおける信号を増幅して前記第２のノードに出力することができる第１の回路と、を含む。 （もっと読む）

【課題】計測期間において入力信号に含まれているパルスの数を精度良く求めることができるカウンター回路を提供する。
【解決手段】このカウンター回路は、設定された計測期間において入力信号のパルスをカウントして計測カウント値を出力する第１のカウンターと、第１のカウンターが計測期間における入力信号の最初のパルスをカウントしてから計測期間が終了するまで基準クロック信号のパルスをカウントしてタイムカウント値を出力する第２のカウンターと、計測期間において第１のカウンターから出力される計測カウント値及び第２のカウンターから出力されるタイムカウント値に基づいて、第１のカウンターが計測期間における入力信号の最初のパルスをカウントしてから計測期間が終了するまでにおける入力信号のパルス数の整数部分及び整数未満部分を含む複合カウント値を求めるデータ変換回路とを含む。 （もっと読む）

【課題】抵抗変化型センサーを用いた計測におけるダイナミックレンジを拡大できる計測装置、および計測方法を提供すること。
【解決手段】マイクロコンピューター１は、抵抗変化型センサーからのセンサー信号に含まれる波数を計測時間ごとにカウントして、計測カウント値として取得するＲＦＣ５０と、計測カウント値を温度や湿度等の物理量に対応する計測値に変換するカウント値−計測値変換処理部１１０と、計測時間設定部１００とを備える。計測時間設定部１００は、ＲＦＣ５０による計測カウント値をＲＦＣ５０がカウント可能な範囲内に収めるように、計測時間を制御する。これにより、計測カウント値のオーバーフローおよびアンダーフローを防ぎ、ダイナミックレンジを拡大する。 （もっと読む）

【課題】温度センサーとしてのサーミスタを利用してマルチバイブレータ回路の周期と動作期間を制御する温度計を提供する。
【解決手段】電子機器は、マルチバイブレータ２に可変充電素子として接続された精密なサーミスタ１と、カウンタータイマー４とクロック発信機５とデータ入出力部１０と帯域阻止フィルター１４と電源制御入出力部８を内蔵するマイクロ制御器３と、ＩＲ感応フォト検出器７と、変調器とアンテナ６を内蔵するＲＦ送信機とからなる。マルチバイブレータは、サーミスタ１とコンデンサに接続された５５５タイマーを具備することもできる。マイクロ制御器３によって制御される第２の回路が、発信の充放電時間を測定する。これらのパラメータの比から、マルチバイブレータ回路の能動部材や充電コンデンサの温度変動とは無縁の温度の正確な表示が得られる。 （もっと読む）

【課題】構成部品のばらつき等によるオフセット調整、及びフルスケール調整を可能にする。
【解決手段】センサ装置は、物理量（例えば、温度、圧力、応力、変位、加速度、電気量等）の変化に対応して電気的な特性値が変化するセンサ素子２１が接続された第１の発振回路２４と、前記物理量の変化に対して電気的な特性値が一定の基準素子１２が接続された第２の発振回路（これは第１の発振回路と共用しても良い。）とを用いて、前記第１及び第２の発振回路２４における相対的な発振周波数の変化分を、カウンタ２７−１，２７−２及び制御回路１０により算出して前記物理量を検出している。 （もっと読む）

【課題】 変換精度を高くすること等が可能なＲ／Ｆ変換回路等を提供する。
【解決手段】 このＲ／Ｆ変換回路１は、トランジスタＱＮ１、ＱＰ１、ＱＰ２と、基準抵抗Ｒ１と、基準抵抗調整回路２と、レギュレータ３と、シュミットトリガ回路４と、ＣＲ発振制御回路５と、発振安定マスク回路６と、入力制御回路７と、計測カウンタ８と、タイムベースカウンタ制御回路９と、タイムベースカウンタ１０とを具備する。発振安定マスク回路６は、基準抵抗Ｒ１等で構成される第１のＣＲ発振回路及びサーミスタＲ２等で構成される第２のＣＲ発振回路を発振させてから所定時間が経過するまで第１及び第２のＣＲ発振回路の出力信号をマスクする。 （もっと読む）