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Fターム[2F067MM07]の内容

波動性又は粒子性放射線を用いた測長装置 (9,092) | 分光 (25) | 対象物入射前の分光 (1)

Fターム[2F067MM07]に分類される特許

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【課題】2段電子線バイプリズム干渉計は1段での電子線バイプリズム干渉計に、飛躍的な自由度の増加を与える光学系であるが、フィラメント電極によって作られる電子線ホログラムの形状の1次元性、さらに干渉領域幅の方向と干渉縞の方位に関しては、1段電子線バイプリズム光学系と同じであった。すなわち、干渉領域幅はフィラメント電極の方向に一致してその長方向が定まり、干渉縞の方位は、干渉領域幅の長方向に一致かつ平行するのみであった。
【解決手段】上、中、下3段電子線バイプリズムを持った構造とするとともに、これら3段電子線バイプリズムのフィラメント電極間のアジムス角Φを操作することにより、干渉領域とその中に形成される干渉縞の方位角θを任意にコントロール可能とすることに加えて、フレネル縞発生の抑制と干渉縞間隔sと干渉縞の方位角θの独立したコントロールを可能とする。 (もっと読む)


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