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Fターム[2G001FA22]の内容

Fターム[2G001FA22]に分類される特許

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【課題】広範な信号レベルで使用できるように放射線画像データ内のノイズを低減し、単一の画像処理プラットフォームを広範なX線用途で利用可能とするための技法を提供する。
【解決手段】本技法の実施形態では、広範囲のアナログ信号強度に関する低ノイズ計測を取得するためのシステム及び方法を提供する。本技法の態様では、一体となって比較的低い積分器利得を提供する2つのフィードバックコンデンサ(46、48)に分配される入力画素電荷に対する低利得計測が実行される。低利得計測の後で、コンデンサのうちの一方をフィードバックループから除去しその電荷を残りのコンデンサに分配し直して高利得計測が実行される。 (もっと読む)


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