説明

Fターム[2G014AB18]の内容

短絡、断線、漏洩、誤接続の試験 (9,053) | 検査対象 (3,356) | 電気的装置 (1,152) | 静電記録装置 (14)

Fターム[2G014AB18]に分類される特許

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【課題】互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する電極パターンを、短時間で安価に検査することができる電極パターン検査装置を提供する。
【解決手段】電極パターン検査装置500は、トナー担持ローラ17の外周面に設けられた互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の電極部26aと当該複数の電極部26aの一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の被給電部26b、26cとを有する外側電極26の検査を行う。電極パターン検査装置500は、複数の電極部26aに電流を流して、当該複数の電極部26a上における磁界の強さの上記一方向(トナー担持ローラ17の周方向)に沿う変化態様を取得して、当該変化態様に基づいて複数の電極部26aのそれぞれが正常又は異常であるか判定する。 (もっと読む)


【課題】接続線の断線を検出する。
【解決手段】通常時に遮断し異常時に導通し異常を検出するスイッチ34と、前記スイッチの一端と第1接続線を介し接続された第1端子T1と、第1ノードN1と第1定電位電源VDD1との間にそれぞれ一端と他端とが接続された第1抵抗R1と、前記スイッチの他端と第2接続線L2を介し接続された第2端子T2と、第2ノードN2と第2定電位電源VDD2との間にそれぞれ一端と他端とが接続された第2抵抗R2と、前記第2ノードと第3定電位電源Gndとの間にそれぞれ一端と他端とが接続された第3抵抗R3と、前記スイッチの一端と他端との間に前記スイッチと並列に接続された第4抵抗R4と、前記スイッチの他端と前記第2接続線との間の第3ノードN3に一端が接続され、他端と、前記第3定電位電源と前記第3抵抗との間の第4ノードN4と、が第3接続線L3を介し接続された第5抵抗R5とを具備する。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で、電源回路についての導電体に生じた漏洩電流による不具合を的確に検知して電流供給を遮断する。
【解決手段】電源回路700は、電流トランスCT1,CT2と、電源800からの電流をヒータ2083に供給するか否かを切り換えるヒータスイッチ702と、電流トランスCT1,CT2の出力を基にライブ側とニュートラル側で負荷電流を検知する電流検知部7051と、ヒータ2083への電流供給を遮断する負荷電流遮断スイッチ703,704と、ヒータスイッチ702へのスイッチオフ信号入力時に、電流検知部7051で負荷電流が検知されているかを判別する判別部7052と、スイッチオフ信号の入力及び負荷電流が検知されていることが判別部7052で判別された場合に、負荷電流遮断スイッチ703,704にヒータ2083への電流供給を遮断させる遮断制御部7053とを備える。 (もっと読む)


【課題】ASICと実装基板間の接続検査を簡単に行う方法を提供する。
【解決手段】集積回路の通常使用されている入出力端子に、並列にドライブ能力の小さいトライステート入出力バッファーを設け、テスト全体を制御するテスト制御回路を設ける。テスト時にはテスト用入力端子から信号を送りテスト制御回路を駆動し、テスト用に設けた入出力トライステート回路の出力側から信号を出力し、その駆動結果を入出力トライステート回路の入力バッファで観測することにより、負荷のプルアップ、プルダウン抵抗があるかどうかをチェックする。 (もっと読む)


【課題】通電電流のダイナミックレンジにかかわらず、当該通電電流の異常を高精度で検出することのできる異常検出装置およびプログラムを得る。
【解決手段】商用電源72と電力負荷92とを電気的に接続する第1配線80Aおよび第2配線80Bと接続配線96Aおよび接続配線96Bとにおけるコネクタ94を境とした商用電源72側および電力負荷80側の各々に流れる電流に応じた誘起起電力を発生するコイル82を備え、コイル82によって発生された商用電源72側および電力負荷80側の各誘起起電力の差が予め定められた閾値以上である場合に異常が発生したと判定する。 (もっと読む)


【課題】容易に高精度に検査を行うことができると共にコストを低減することができる電子部品の検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】接続部が並設されたコネクタ43が設けられた電子部品11を固定する固定手段220と、前記コネクタ43に挿入されて前記接続部と接続されると共に検査器に接続された検査用コネクタ230と、該検査用コネクタ230を移動自在に保持する保持手段240とを具備し、前記検査用コネクタ230が、各接続部に電気的に接続される並設されたプローブピンと、該プローブピンの並設方向両側に前記プローブピンの先端よりも突出して設けられて、前記コネクタの前記接続部の並設方向両側の外側に嵌合するガイド部とを具備し、前記保持手段240が、前記検査用コネクタ230を前記コネクタ43の挿入する方向に移動した際に、前記ガイド部が前記コネクタ43の外周に嵌合することによって前記コネクタ43に挿入される。 (もっと読む)


【課題】フレキシブルフラットケーブルの誤挿入を検知して通知する。
【解決手段】プリント基板201とプリント基板202の各々のコネクタ205、206にフラットケーブル(FFC)203aが接続される。出力ポート307の接続検知出力信号がコネクタ205の端子A15からFFC203aを介してコネクタ206の端子B1に伝送される。プリント基板202内においてコネクタ206の端子B1と端子B12は信号線で接続されており、接続検知出力信号はコネクタ206の端子B12、FFC203aを介してコネクタ205の端子A4に転送され、入力ポート308に入力され、制御回路204が出力ポート307の出力レベルと入力ポート307の入力レベルを比較し、正しいFFCで接続されているかを判断する。を検出する。ケーブルの非対称位置に接続検出用の信号を配置し、入出力レベルが一致していることを検出する。 (もっと読む)


【課題】複数の集積回路をカスケード接続する信号線の欠陥を容易に検出する。
【解決手段】電気光学装置100は、複数の信号線15を含む配線群L1〜LMを介して相互にカスケード接続されたM個の集積回路C1〜CMを具備する。各集積回路Ci(i=1〜M)は、各信号線15に対応した複数のビットで構成されるテストパターンPTを記憶する記憶回路62と、記憶回路62が記憶するテストパターンPTを配線群Li+1から後段に出力する出力回路45と、配線群Liを介して前段からテストパターンPTを取得する入力回路42と、入力回路42が取得したテストパターンPTと記憶回路62が記憶するテストパターンPTとを比較する比較回路64と、比較回路64による比較の結果を電気光学素子22の駆動によって可視的に出力する駆動回路70とを含む。 (もっと読む)


【課題】電子装置の電子部品の接続状態を容易且つ確実に検査すること。
【解決手段】 複数の電子部品を備えた電子装置であって、電子部品への電気信号の入出力を制御する制御用回路と、複数の電子部品の接続を検査する複数の検査用回路と、を備える。そして、複数の検査用回路を直列に接続して終端に前記制御用回路を接続し、各検査用回路から出力される検査信号を順番に重畳して制御用回路に入力し、制御用回路において各電子部品の接続の適否を判定する。 (もっと読む)


【課題】複数の電子回路基板が実装されて構成された電子機器において、少ない検知ポーチでも各基板間の接続状態を確実に検知できるようにする。
【解決手段】マザーボード300上に1つの主制御基板100と複数の副制御基板200を実装可能に構成する。接続部130,230は、同種かつ同極数とする。主制御基板100には、検知信号線S1用の入力ポート122を持つ入出力制御IC120を設ける。検知信号線S1に関わる入力側端子を各副制御基板200で異なる番号の端子に割り当て、出力側端子を各副制御基板200で最終番号端子に割り当て、同一基板内の入出力端子間に検知抵抗210を挿入し、一方の基板の出力側端子と他方の基板の入力側端子とを接続することで、検知信号線S1を各副制御基板200の間で直列に結線する。入出力制御IC120は、入力ポート122に現われる検知信号線S1の信号レベルがHのとき接続異常であると判定する。 (もっと読む)


【課題】電気回路構造が簡単で、安価に製造できる電子機器及び画像形成装置を提供すること。
【解決手段】イレーザランプ32と、クラッチソレノイド20と、クラッチソレノイド20の駆動を制御する第3トランジスタTR13とを備える複合機1において、イレーザランプ32に電力を供給する第1トランジスタTR11を設け、第3トランジスタTR13がイレーザランプ32から供給される電力により、クラッチソレノイド20の駆動制御を行うように、第3トランジスタTR13をイレーザランプ32を介して第1トランジスタTR11に接続する。 (もっと読む)


【課題】電流値の増減があったとしても接触個所の接触抵抗の異常を精度よく検知する。
【解決手段】電気的に接触する接続部を相互に連結するドロワコネクタ61の接触抵抗62の異常を検知する異常検知装置において、抵抗値が既知の基準抵抗55と、基準抵抗55及び接触抵抗62に共通して流れる電流から基準抵抗55の両端電位差を出力する第1のオペアンプ52と、接触抵抗62の両端電位差を出力する第2のオペアンプ54と3前記第1及び第2のオペアンプ52,53の出力値を比較するコンパレータ54とを備え、このコンパレータ54の出力結果に基づいて接触抵抗62の異常を出力が反転により検知する。 (もっと読む)


【課題】 製造コストの安価な接続判定機構を提供する。
【解決手段】 本判定機構では、制御基板31aとユニットUとが接続されている場合、電源電圧Vccは、抵抗R1によって降下された状態で端子kに印加される。そして、制御部31は、端子kに降下電圧が印加されている場合、ユニットUが制御基板31aに接続されていると判断する。一方、端子kに降下電圧の印加されていない場合、制御部31は、ユニットUが制御基板31aに接続されていないと判断する。本判定機構は、従来の電源ケーブルCv,信号ケーブルCk,端子kを用いて接続判定を行うため、製造コストの安価な接続判定機構となっている。 (もっと読む)


【課題】同期整流機能を有する半導体集積回路の同期整流開始時及び終了時の貫通防止機能の測定結果を選択可能にし、貫通防止機能の検査を誤りなく実施する。
【解決手段】同期整流機能を有する出力回路の出力部に電源Vcc1よりも高い電圧で駆動する電流源9と、測定器8と、測定電圧と予め設定の電圧VRとを比較するコンパレータ10を接続する。コンパレータ10の出力は遅延時間を設定できる遅延回路11と演算器12の入力に接続され、演算器12は測定器8へトリガセット信号を出力する。遅延回路11の遅延時間を制御することにより、任意区間における貫通防止機能を選択して検査を実施する。 (もっと読む)


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