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Fターム[2G029AG04]の内容

Fターム[2G029AG04]に分類される特許

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【課題】発振周波数可変域の異なる複数の電圧制御発振器を有する局部発振信号発生装置を検査するための検査方法であって、安価な半導体検査装置を用いて実現可能であり且つ検査効率のよい検査方法を提供する。
【解決手段】発振周波数可変域の異なる複数の電圧制御発振器1_1〜1_nを有する局部発振信号発生装置を検査するための検査方法であって、前記複数の電圧制御発振器1_1〜1_nの各発振周波数可変域の上端周波数及び下端周波数のうち一部のみ(例えばfA,fB)を探索し、その探索結果を用いた演算によって得られた周波数ポイント(例えばfD)の正常発振の有無を判定することにより、発振周波数可変域が隣接する電圧制御発振器同士において発振周波数可変域が規定以上重複していることを検査する検査方法。 (もっと読む)


【課題】発生後短時間で消滅する信号の存在を確実に検出し得る周波数検出装置を提供する。
【解決手段】磁化固定層、磁化自由層、および磁化固定層と磁化自由層との間に配設されたスペーサー層を備えた磁気抵抗効果素子(例えばTMR素子やCPP−GMR素子など)2と、磁化自由層に磁場を印加する磁場印加部3と、入力端子4a,4bを介して磁気抵抗効果素子2に交流信号S1が供給されたときに磁気抵抗効果素子2の両端に発生する直流電圧を増幅して出力信号S2として出力する差動増幅部6とを備えている。 (もっと読む)


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