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Fターム[2G041LA04]の内容

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Fターム[2G041LA04]に分類される特許

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【課題】MSn分析によって得られたデータを基に未知物質の構造推定を容易に行うことのできる質量分析データ解析方法を提供する。
【解決手段】未知物質のプリカーサイオンの質量電荷比からその組成式を推定し(S12)、該未知物質に類似する既知物質の構造式と所定の構造変化パターンを組み合わせることで該組成式と同様の組成式が得られる構造候補を作成する(S14)。該構造候補から発生するフラグメントイオンピークを推定し(S15)、それを基に前記構造候補を蓋然性の高い順にランク付けする(S16)。次に、未知物質と既知物質のマススペクトルを比較し、両者に共通するフラグメントイオンピークを探索する(S19)、共通するピークが存在した場合には該ピークに対応する既知物質の部分構造が未知物質にも含まれているものと推定し、該部分構造情報を基に上記構造候補の絞り込みを行う(S21)。 (もっと読む)


【課題】試料中の各未知成分について得られたMSn分析の結果に基づいて目的成分に似た成分を迅速且つ正確に探索することのできる質量分析データ解析方法を提供する
【解決手段】LC/MS装置を用いて混合試料中の各成分についてMSn分析を行い、得られたスペクトルデータ(測定データ)と目的成分のスペクトルデータ(参照データ)に基づいて所定の変数を導出し(ステップS11〜S13)、該変数を用いて多変量解析を行うことにより、前記目的成分と混合試料中の各成分との類似度を求め(ステップS14)、該類似度に基づいて目的成分に類似する成分を選出する(ステップS16)。 (もっと読む)


【課題】物質の構造に関する情報の取得効率を向上し、測定及び物質同定の時間を短縮し、同定精度を向上することのできる質量分析システムを提供する。
【解決手段】イオン化された試料を質量分析する工程、質量分析で観測されたイオンの中から第1のイオンを選択して断片化する第1の断片化工程、第1の断片化工程によって生じた複数の断片イオンを質量分析する工程、質量分析の結果を用いて、第1のイオンを再構成できる断片イオンの組み合わせを求める工程、断片イオンの組み合わせに含まれる断片イオンを断片化する第2の断片化工程、第2の断片化工程で生じた断片イオンを質量分析する工程を有する。 (もっと読む)


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