【課題】 コヒーレント光源のコヒーレンシを維持したまま中心周波数を変化させた出力光を得る。
【解決手段】 高コヒーレント光源１１の出力光は光コム発生部１２にてその周波数を中心に一定間隔で配列する複数の光線スペクトルに分離され、光フィルタ１３で任意の光線スペクトルが切り出され、外部変調器１４にて一定幅に渡って周波数掃引される。その出力光は第１の光方向性結合器１５によって信号光と参照光に分岐され、信号光は測定対象１６に入射される。測定対象１６内で反射または後方散乱された信号光は第１の光方向性結合器１５により取り出され、第２の光方向性結合器１７により参照光と合波されて、光受信器１８で光受信検波される。この時、信号光と参照光の干渉によって生じる干渉ビート信号を周波数解析装置１９によって周波数解析することで測定対象１６内の各位置からの反射光および後方散乱光強度分布が測定される。 （もっと読む）

【課題】分岐損失が大きく、しかも長尺のファイバであっても、簡易な構成で、高距離分解能かつ高感度に測定できるようにする。
【解決手段】コヒーレントな光でその光周波数が時間とともに変化する周波数掃引光Ｐｂをプローブ光Ｐｃと参照光Ｐｄに分岐し、プローブ光Ｐｃを被測定光ファイバ１に入射するとともにその戻り光Ｐｅを受ける。参照光Ｐｄはパルス変調器３１によりパルス化され、その参照光パルスＰｆが光ループ遅延器３３のループ状光路内を周回し、所望の周回分遅延した参照光パルスＰｆ（ｊ）が光ゲート３６を通過して、戻り光Ｐｅと合波され、その合波光Ｐｇが受光器４１に入射され、両光のビート成分Ｅが得られる。参照光パルスＰｆ（ｊ）の周回数は制御部５０によって設定されており、ビート成分Ｅの周波数とその参照光パルスＰｆ（ｊ）の周回数とに基づいて被測定光ファイバ１の反射位置を特定することができる。 （もっと読む）

光ファイバの連続的測定システムは、光ファイバの長さ方向に沿った少なくとも一つの光学的特性を連続的に測定する。このシステムは、反射器が固定されている可回転体を備えている。上記反射器は、上記光ファイバの一端に光学的に結合され、これにより、上記光ファイバから上記反射器まで伝播する光が、上記光ファイバの長さ方向に沿って測定装置に向かって反射せしめられることを可能にしている。測定されるべき光学的特性は、上記光ファイバが一つの可回転体から他の可回転体に巻き取られるときに得られる。このシステムは、上記ファイバの長さ方向に沿って局部に限定された曲げ機構が採用された場合におけるマクロベンド損失を含む減衰の測定に特に適している。
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【課題】本発明の課題は、周波数掃引範囲・速度を上げるための高価・高機能な変調器が不要となり、且つ光ファイバ中の強い反射の影響を排除して光反射率分布測定が可能となる光反射率分布測定方法及び装置を提供することにある。
【解決手段】本発明は、時間に対して線形に周波数が変化するように周波数変調した光を周期的なパルス列に変調する第１のステップと、前記第１のステップで得られた光を分岐し、一方の光を試験光として光伝送路に入射する第２のステップと、前記光伝送路からの反射光を、前記第１のステップで得られた光を分岐した他方の光である参照光に合波してヘテロダイン検波する第３のステップと、前記第３のステップで得られたヘテロダイン検波信号のビート周波数の違いによって光伝送路内の反射点の位置を測定する第４のステップとよりなることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ブリルアン散乱現象を用いた測定方法にて、光ファイバの片側端部のみからの信号光入射にて高空間分解能を実現する。
【解決手段】第１パルス光と第２パルス光との時間間隔が音響波の寿命以下の時間間隔とされたパルス列３ａをコヒーレント光２ａから生成して光ファイバ７へ出射する光パルス生成手段３と、第１パルス光の後方ブリルアン散乱光とコヒーレント光とを合波することによって得られる光信号を電気信号に変換する検波手段８と、電気信号と該電気信号を第１パルス光と第２パルス光との時間間隔分遅延させた電気信号との和をとることによって干渉信号を生成し、該干渉信号に基づいて上記光ファイバの特性を求める信号処理手段１４と、上記電気信号よりブリルアンスペクトルを得るための電気的あるいは光学的な周波数可変手段１０とを備える。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で高効率に光ファイバの温度・歪を測定可能な光ファイバ温度・歪測定方法および装置を提供する。
【解決手段】光ファイバ温度・歪測定装置を、測定光を出射する光源部２と、コア領域１１の周囲に光軸方向に沿って形成された３つ以上の空孔１３を有し、一端に測定光が入射される空孔付光ファイバ１と、空孔付光ファイバ１の他端側に設けられ、空孔付光ファイバ１内で発生して測定光と同方向に進行する前方ブリルアン散乱光を検出し、電気信号に変換する光／電気変換器４と、光／電気変換器４から出力される出力信号の周波数スペクトルを表示するスペクトラムアナライザ５とを備え、得られた出力信号を解析して媒質もしくは空間等の温度または歪を算出する構成とした。 （もっと読む）

【課題】 高精度、且つ非破壊で光ファイバの判定方法、光ファイバの損失波長特性評価方法及び光ファイバの出荷方法を提供すること。
【解決手段】 ボビン巻きによる損失増分を除く波長λでの基本損失波長特性αは、レーリー散乱損失Ａ／λ^４、構造不整損失B、赤外吸収損失Ｃ｛ｅｘｐ（−Ｄ／λ）｝、及びＯＨ吸収損失α_ＯＨの和で近似されている。レーリー散乱係数Ａを１．２ｄＢ／ｋｍ・λ^４に設定し、構造不整損失Ｂとして１５３０ｎｍの波長の際にレーリー散乱損失A／λ^４、構造不整損失Ｂ、赤外吸収損失Ｃ｛ｅｘｐ（−Ｄ／λ）｝、及びＯＨ吸収損失α_ＯＨの和で表される計算値と損失実測値との差が０になるように求められ値を用い、赤外吸収損失係数Ｃ、Ｄとして実験的に算出した値を用い、ＯＨ吸収損失α_ＯＨは実験的に算出した値を用いる。 （もっと読む）

【課題】被測定光ファイバ特性を測定するコストを低減させ、光ファイバ特性測定装置をコンパクト化する。
【解決手段】被測定光ファイバの一端から空間分解能を規定するＭＨｚ帯の第１変調信号によって角度変調されたレーザ光を入射させ、他端から上記ＭＨｚ帯の第１変調信号をさらにブリルアン周波数シフト近傍に周波数設定されたマイクロ波帯の第２変調信号によって角度変調されたレーザ光を入射させ、その透過光の強度に基づいて被測定光ファイバのブリルアン周波数シフトを測定する光ファイバ特性測定装置及び方法において、第１変調信号の周波数を所定範囲に亘って連続的に掃引させた際の透過光の強度を第２変調信号の各周波数を所定の周波数幅でステップ状に順次変化させることによって各々取得し、このようにして取得された各強度を総合することによってブリルアン周波数シフトを測定する。 （もっと読む）