【課題】光集積回路上の光導波路のように導波路長が短く従来の光ファイバ調芯装置で検査が困難な光導波路についても、導通検査を行うことができる光導波路の検査装置を提供する。
【解決手段】光導波路の検査装置は、被検査物を保持する保持手段と、光導波路の光入力部に照射する入力光を生成する光源と、光源から入射された入力光を導波して出射する第１の光ファイバと、第１の光ファイバから入射された入力光を平行光化するテレセントリックな第１の光学系、第１の光学系で平行光化された入力光を集光して光導波路の光入力部に照射すると共に光導波路の光出力部から出射された出力光を平行光化するテレセントリックな第２の光学系及び第１の光学系から出射された平行光が第２の光学系に入射するように入力光の全部又は一部の光路を変更する第１の光路変更手段を備えた検査用光学系と、第２の光学系で平行光化された出力光を検出する光検出手段と、を備える。 （もっと読む）

像プロファイル解析によって偏波保持光ファイバーを位置合わせする方法が提供される。偏波保持光ファイバーを解析する方法は、前記光ファイバーの側面を照明すること、回転角を徐々に増加させて前記光ファイバーを回転させること、各前記回転角において、前記光ファイバーの像プロファイルを、該像プロファイルの焦点面は前記光ファイバー内に位置決めされるように入手すること、個々の前記像プロファイルに基づいて、各前記回転角において像パラメーターを測定すること、及び前記測定された像パラメーターに基づいて、前記光ファイバーの測定像パラメータープロファイルを回転角の関数として構成すること、によって、偏波保持光ファイバーを解析することを含む。この方法は、前記測定像パラメータープロファイルに数学的関数の曲線当てはめを行なうことによって、前記光ファイバーの近似像パラメータープロファイルを回転角の関数として構成することも含む。
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光導波路（１，２）をスプライシングするための装置が、プリント配線板として形成された支持プレート（１０）に配置されている。当該装置は、第１の光導波路（１）を長手方向に移動させるためのばね薄板（８０ａ）に配置されている第１の光導波路ガイド（２０ａ）と、第２の光導波路（２）を長手方向に移動させるための別のばね薄板（８０ｂ）に配置されている第２の光導波路ガイド（２０ｂ）とを有している。両ばね薄板（８０ａ，８０ｂ）はそれぞれ曲げ可能なレバーアーム（６０ａ，６０ｂ）に配置されている。該レバーアーム（６０ａ，６２ｂ）を曲げることにより、前記光導波路ガイド（２０ａ，２０ｂ）内に挿入された光導波路を横方向（Ｓｘ，Ｓｙ）に移動させることができる。このような曲げ装置（６０ａ，６２ｂ，８０ａ，８０ｂ）に作用する力を減速させることにより、光導波路を位置合わせするために必要となる精度を形成することができる。
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