Fターム[4M104FF36]の内容
Fターム[4M104FF36]に分類される特許
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炭化珪素半導体装置およびその製造方法
【課題】ショットキー接合部の面積の減少を防ぐことができるとともに、簡便なプロセスで低コストの半導体装置を得る。
【解決手段】炭化珪素基板2上に、n型不純物を比較的低濃度に含んだドリフト層である半導体層1を備え、当該半導体層1の主面には、複数の溝状の凹部TRが設けられ、当該溝状の凹部TRの側面内には、p型不純物を含んだ半導体領域3aが形成されている。また、溝状の凹部TRが配設された領域の周囲には、p型不純物を含んだ導体領域4が配設されている。
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窒化ガリウム半導体素子
【課題】高出力の窒化ガリウムショットキー・ダイオード素子を提供する。
【解決手段】1〜6μmの厚さを有するn+型ドープしたGaNダイオードから製造した窒化ガリウムベースの半導体ショットキー・ダイオードをサファイア基板の上に配設する。1μmを超える厚さを有するn−型ドープしたGaNダイオードを、複数の細長形の指にパターン化した前記n+型ドープGaNダイオード上に配設し、金属層をn−型ドープGaN層上に配設し、それとの間にショットキー接合を形成する。細長形の指の層厚、長さおよび幅は、降伏電圧が500Vを超え、電流容量が1アンペアを超え、かつ順方向電圧が3V未満である素子を得るように最適化される。
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