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Fターム[5F004DA09]の内容

半導体のドライエッチング (64,834) | 処理に用いるガス (14,486) | C2Cl3F3 (2)

Fターム[5F004DA09]に分類される特許

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【課題】処理ガスの分解効率を上げ、基板に対する処理速度の向上を図る基板処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマ発生管6を囲む様に設けられ、少なくとも該プラズマ発生管6の内壁近傍にプラズマ生成領域12を生成するプラズマ発生手段9,11と、前記プラズマ発生管6の上流側から処理ガスを供給するガス供給手段16と、前記プラズマ発生管6の下流側に隣設され、プラズマ化された処理ガスによって基板3を処理する処理室4と、前記ガス供給手段16と前記プラズマ生成領域12上端の間に設けられ、前記プラズマ発生管の内壁近傍の処理ガス密度が濃くなる様処理ガスの流れを整える整流板17と、前記処理管から処理ガスを排気する排気手段28とを具備する。 (もっと読む)


【課題】ドライエッチングによる樹脂膜のパターン形成方法において、高い選択比が得られる方法の提供。
【解決手段】ドライエッチングによる樹脂膜のパターン形成方法において、レジストとしてノボラック樹脂を用い、エッチングガスとしてハロゲン系ガスを用い、かつ、樹脂膜が含フッ素芳香族系樹脂を含む樹脂膜であることを特徴とするパターン形成方法。特にドライエッチングの圧力範囲が、1〜100Paであることが好ましい。また前記含フッ素芳香族系樹脂が、フッ素原子が芳香環に直接結合した分子構造を有する含フッ素ポリマーを含むことが好ましい。 (もっと読む)


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