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Fターム[5F005AG00]の内容

サイリスタ (1,378) | ライフタイム (9)

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【課題】単結晶シリコンセグメントを熱処理することによって、少数キャリア再結合中心の所望のプロファイルを有するセグメント、並びにそのようなセグメントを製造する方法の提供。
【解決手段】セグメントは前表面と、後表面と、前表面と後表面の間にある中央平面を有する。本発明の方法では、セグメントは結晶格子空孔を形成するために熱処理に付され、空孔はシリコンのバルクに形成される。セグメントはその後、中央平面にあるいは中央平面の近くにピーク密度があり、濃度がセグメントの前表面の方向にほぼ減少していく空孔濃度プロファイルを有するセグメントを製造するために、前表面に拡散する結晶格子空孔のすべてではないが、いくつかを許容する速度で熱処理の温度から冷却される。白金原子はその後に、結果的に生じる白金濃度プロファイルが実質的に結晶格子空孔の濃度プロファイルに関連するようにシリコンマトリックスのなかに内方拡散される。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極からのバイアス効果を大きくするとともに、オンからオフへのスイッチング速度を高速化することを可能とする。
【解決手段】第1伝導型の第1領域(第1p型領域p1)と、前記第1伝導型とは逆伝導の第2伝導型の第2領域(第1n型領域n1)と、第1伝導型の第3領域(第2p型領域p2)と、第2伝導型の第4領域(第2n型領域n2)とが順に接合されたサイリスタ2と、前記第3領域に形成されたゲート電極13と、前記第3領域が形成されるもので前記バルク半導体基板10に形成された第2伝導型のウエル領域11とを有する半導体装置1であって、前記サイリスタ2の第1領域側に第1電圧が印加され、前記サイリスタ2の第4領域側に前記第1電圧よりも高い第2電圧が印加され、前記ウエル領域11に前記第1電圧よりも高い電圧もしくは前記第1電圧と同等の電圧が印加されることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】pnpn接合のサイリスタ構成を有する半導体装置において、同一伝導型に挟まれた異伝導型の領域中に再結合中心となる領域を形成して少数キャリアを再結合させることで、ライフタイムを短くし、onからoffへのスイッチング速度の高速化を図る。
【解決手段】第1伝導型(n型)の第1領域(第1p型領域)p1と、第2伝導型(p型)の第2領域(第1n型領域)n1と、第1伝導型の第3領域(第2p型領域)p2と、第2伝導型の第4領域(第2n型領域)n2とが順に接合されてなるサイリスタを有し、第2領域n1および第3領域p2のいずれか一方の領域にゲート絶縁膜12を介してゲート電極13が形成されている半導体装置1において、第2領域n1および第3領域p2のうちゲート電極13が形成されていない領域中にキャリアの再結合中心となる欠陥領域21が形成されているものである。 (もっと読む)


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